[发明专利]一种光纤陀螺环长度的测量方法、装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种光纤陀螺环长度的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

获取光载微波信号；

将所述光载微波信号输入至未携带待测光纤陀螺环长度信息的微波干涉仪中获得第一光载信号，处理所述第一光载微波信号，获得所述第一光载微波信号在一个周期内的第一频率差值；

将所述光载微波信号输入至携带待测光纤陀螺环长度信息的微波干涉仪中获得待测光载微波信号，处理所述待测光载微波信号获得所述待测光载微波信号在一个周期内的第二频率差值；

基于所述第一频率差值和所述第二频率差值，确定所述待测光纤陀螺环的长度信息。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述处理所述第一光载微波信号，获得所述第一光载微波信号在一个周期内的第一频率差值，包括：

确定与所述第一光载微波信号对应的第一幅频响应函数；

计算所述第一幅频响应函数在一个函数周期内的微波频率差值，确定所述第一频率差值。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述处理所述待测光载微波信号获得所述待测光载微波信号在一个周期内的第二频率差值，包括：

确定与所述待测光载微波信号对应的第二幅频响应函数；

计算所述第二幅频响应函数在一个函数周期内的微波频率差值，确定所述第二频率差值。

4.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述确定与所述第一光载微波信号对应的第一幅频响应函数，包括：

将所述第一光载微波信号转换成第一微波信号；

将所述第一微波信号输入至矢量网络分析仪，确定所述第一幅频响应函数。

5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，基于所述第一频率差值和所述第二频率差值计算出所述待测光纤陀螺环的长度信息，还包括：

基于所述第一频率差值获得所述光载信号的第一光纤长度信息；

基于所述第二频率差值获得所述光载信号的第二光纤长度信息；

基于所述第一光纤长度信息与所述第二光纤长度信息的差值，确定所述待测光纤陀螺环的长度信息。

6.一种光纤陀螺环长度的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：

获取模块，用于获取光载微波信号；

第一处理模块，用于将所述光载微波信号输入至未携带待测光纤陀螺环长度信息的微波干涉仪中获得第一光载信号，处理所述第一光载微波信号，获得所述第一光载微波信号在一个周期内的第一频率差值；

第二处理模块，用于将所述光载微波信号输入至携带待测光纤陀螺环长度信息的微波干涉仪中获得待测光载微波信号，处理所述待测光载微波信号获得所述待测光载微波信号在一个周期内的第二频率差值；

确定模块，用于基于所述第一频率差值和所述第二频率差值，确定所述待测光纤陀螺环长度的信息。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述第一处理模块在用于所述处理所述第一光载微波信号，获得所述第一光载微波信号在一个周期内的第一频率差值时，所述第一处理模块用于：

确定与所述第一光载微波信号对应的第一幅频响应函数；

计算所述第一幅频响应函数在一个函数周期内的微波频率差值，确定所述第一频率差值。

8.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述第二处理模块在用于所述处理所述待测光载微波信号获得所述待测光载微波信号在一个周期内的第二频率差值时，所述第二处理模块用于：

确定与所述待测光载微波信号对应的第二幅频响应函数；

计算所述第二幅频响应函数在一个函数周期内的微波频率差值，确定所述第二频率差值。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过所述总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如权利要求1至5中任一所述的一种光纤陀螺环长度的测量方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至5中任一所述的一种光纤陀螺环长度的测量方法的步骤。