[发明专利]手写字符的评价方法、装置、电子设备和计算机存储介质有效
申请号: | 202110462709.3 | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN112883942B | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 迟耀明;赵亮;张宁 | 申请(专利权)人: | 北京世纪好未来教育科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06F17/16 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 祝乐芳 |
地址: | 100089 北京市海淀区中*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 手写 字符 评价 方法 装置 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
1.一种手写字符的评价方法,其特征在于,包括:
获取预设区域内的待评价字符;
获取所述待评价字符在极坐标系下的第一分布特征;
获取所述第一分布特征与第二分布特征的第一距离,其中,所述第二分布特征为所述待评价字符对应的标准字符在极坐标系下的分布特征;
根据所述第一距离和第一预设阈值,得到第一评价内容,其中,所述第一预设阈值是根据书写布局质量参数确定的,所述第一预设阈值用于划分所述书写布局质量参数的区间,所述书写布局质量参数用于表征书写布局质量;
其中,所述预设区域包括多个第一子区域;
所述获取所述待评价字符在极坐标系下的第一分布特征,包括:
获取所述待评价字符在极坐标系下的二值矩阵;
针对每个第一子区域,获取所述第一子区域对应的第一子分布特征,所述第一子分布特征包括:第一半径相关值和第一角度相关值;
根据所有的第一子区域对应的第一子分布特征,得到第一分布特征;
其中,所述获取所述第一子区域对应的第一子分布特征,包括:
根据所述第一子区域内值为预设值的点在极坐标系中的半径值,确定所述第一子区域对应的第一半径相关值;根据所述第一子区域内值为预设值的点在极坐标系中的角度值,确定所述第一子区域对应的第一角度相关值;
其中,所述根据所述第一子区域内值为预设值的点在极坐标系中的半径值,确定所述第一子区域对应的第一半径相关值,包括:
确定所述二值矩阵中值为预设值的点所在的目标第一子区域;
获取所述目标第一子区域内值为预设值的点在极坐标系中的半径值的平均值,得到所述目标第一子区域的第一半径相关值;
确定非目标第一子区域对应的第一半径相关值为第一默认值;
所述根据所述第一子区域内值为预设值的点在极坐标系中的角度值,确定所述第一子区域对应的第一角度相关值,包括:
获取所述目标第一子区域内值为预设值的点在极坐标系中的角度值的平均值,得到所述目标第一子区域的第一角度相关值;
确定所述非目标第一子区域对应的第一角度相关值为第二默认值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所有的第一子区域对应的第一子分布特征,得到第一分布特征,包括:
将所有的第一半径相关值按照预设顺序排列成向量,得到所述待评价字符对应的第一半径向量;
将所有的第一角度相关值按照预设顺序排列成向量,得到所述待评价字符对应的第一角度向量;
确定所述第一半径向量和所述第一角度向量为所述第一分布特征。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一分布特征与第二分布特征的第一距离,包括:
获取所述第一半径向量与第二半径向量的半径距离,其中,所述第二半径向量为所述待评价字符对应的标准字符的第二半径相关值按照预设顺序排列成的向量;
获取所述第一角度向量与第二角度向量的角度距离,其中,所述第二角度向量为所述待评价字符对应的标准字符的第二角度相关值按照预设顺序排列成的向量;
根据所述半径距离和所述角度距离,确定第一距离。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述待评价字符的至少一个第一子结构特征,其中,所述第一子结构特征包括以下至少一个:重心特征、位置特征、比例特征和对称性特征;
根据所述至少一个第一子结构特征,得到第一结构特征;
获取所述第一结构特征与第二结构特征的第二距离,其中,所述第二结构特征为所述待评价字符对应的标准字符的结构特征;
根据所述第二距离,确定第二评价内容。
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