[发明专利]一种从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法有效
申请号: | 202110464087.8 | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN113200869B | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 仲超;樊振寿;孔磊;王枝松;倪东原 | 申请(专利权)人: | 南京长江江宇环保科技股份有限公司 |
主分类号: | C07C209/86 | 分类号: | C07C209/86;C07C211/63;C02F1/00;C02F1/04;C02F101/36 |
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地址: | 210047 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 显影 水中 回收 甲基 氯化铵 方法 | ||
1.一种从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,由以下步骤构成:
步骤(1):将四甲基氯化铵废水过滤后加入减压蒸馏装置中进行蒸发结晶;
步骤(2):向步骤(1)蒸发结晶后的蒸发釜内加入清洗剂进行第一次清洗,清洗后进行抽滤;
步骤(3):对步骤(2)得到的晶体用清洗剂进行第二次清洗,清洗后进行抽滤;
步骤(4):将步骤(3)得到的晶体置于真空干燥箱内干燥,干燥后得到白色四甲基氯化铵晶体;
步骤(1)中减压蒸发结晶的绝对压力为1~5 kPa;
步骤(2)和步骤(3)中清洗所用清洗剂均为乙酸乙酯;
步骤(2)中清洗剂用量与四甲基氯化铵废水的质量比为3:16 ~ 3:8;
步骤(3)中清洗剂用量与四甲基氯化铵废水的质量比为1:8 ~ 1:4。
2.根据权利要求1所述的从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,步骤(2)和步骤(3)中清洗时间均为2~3h。
3.根据权利要求1所述的从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,步骤(4)中真空干燥温度为40~60℃。
4.根据权利要求1所述的从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,步骤(4)中真空干燥时长为3~6h。
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