[发明专利]一种从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法有效

专利信息
申请号: 202110464087.8 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113200869B 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 仲超;樊振寿;孔磊;王枝松;倪东原 申请(专利权)人: 南京长江江宇环保科技股份有限公司
主分类号: C07C209/86 分类号: C07C209/86;C07C211/63;C02F1/00;C02F1/04;C02F101/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210047 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 显影 水中 回收 甲基 氯化铵 方法
【权利要求书】:

1.一种从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,由以下步骤构成:

步骤(1):将四甲基氯化铵废水过滤后加入减压蒸馏装置中进行蒸发结晶;

步骤(2):向步骤(1)蒸发结晶后的蒸发釜内加入清洗剂进行第一次清洗,清洗后进行抽滤;

步骤(3):对步骤(2)得到的晶体用清洗剂进行第二次清洗,清洗后进行抽滤;

步骤(4):将步骤(3)得到的晶体置于真空干燥箱内干燥,干燥后得到白色四甲基氯化铵晶体;

步骤(1)中减压蒸发结晶的绝对压力为1~5 kPa;

步骤(2)和步骤(3)中清洗所用清洗剂均为乙酸乙酯;

步骤(2)中清洗剂用量与四甲基氯化铵废水的质量比为3:16 ~ 3:8;

步骤(3)中清洗剂用量与四甲基氯化铵废水的质量比为1:8 ~ 1:4。

2.根据权利要求1所述的从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,步骤(2)和步骤(3)中清洗时间均为2~3h。

3.根据权利要求1所述的从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,步骤(4)中真空干燥温度为40~60℃。

4.根据权利要求1所述的从半导体显影废水中回收四甲基氯化铵的方法,其特征在于,步骤(4)中真空干燥时长为3~6h。

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