[发明专利]一种异质结激光器及其制备方法有效
申请号: | 202110465099.2 | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN113206447B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 洪嘉祥;雷双瑛;江源长;陈洁;黄庆安 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01S5/32 | 分类号: | H01S5/32 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 冯慧 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 异质结 激光器 及其 制备 方法 | ||
1.一种异质结激光器,其特征在于,用双层堆垛类黑磷烯的不同堆垛结构实现HD型异质结半导体激光器,该异质结半导体激光器的结构自下而上包括:下电极(1)、衬底(2)、下包覆层(3)、有源层(4)、上包覆层(5)和上电极(6);有源层为一个横向异质结,横向异质结由双层AD型GeS堆垛和双层旋转AB型GeS堆垛构成;双层AD型GeS堆垛和双层旋转AB型GeS堆垛都为稳定的堆垛结构;双层AD型GeS堆垛的第二层相当于相对第一层沿b方向移动了半个周期,双层旋转AB型GeS堆垛的结构的第二层相对于第一层进行了180°的旋转,然后沿着a方向移动了半个周期。
2.根据权利要求1所述的异质结激光器,其特征在于,所述的异质结激光器中,上包覆层(5)为p型双层AD型GeS堆垛,下包覆层(3)为n型双层AD型GeS堆垛,都为AD堆垛结构,上包覆层和下包覆层的厚度为10-20nm。
3.根据权利要求1所述的异质结激光器,其特征在于,双层AD型GeS堆垛和双层旋转AB型GeS堆垛通过探针剥离的方法将初始结构进行错位得到。
4.根据权利要求1所述的异质结激光器,其特征在于,所采用的异质结为Ⅰ型异质结结构,所谓Ⅰ型异质结通常定义为该异质结的能带结构表现为:窄带材料的导带底和价带顶都位于宽带材料的禁带中,ΔEc和ΔEv的符号相反;因此本结构就定义为双层AD型GeS堆垛的导带底CBM在双层旋转AB型GeS堆垛的CBM之上,而价带顶VBM则在双层旋转AB型GeS堆垛的VBM之下;ΔEc为窄带与宽带导带底能量差,Δev为窄带与宽带价带顶能量差。
5.一种权利要求1~4任一所述的异质结激光器的制备方法,其特征在于,该制备方法包括以下步骤:
a.衬底的制备:HF浸泡刻蚀,真空沉积得到Si衬底;
b.GeS薄膜制备:液相反应制备GeS薄膜,将得到的GeS薄膜附着在步骤a得到的衬底上;
c.特殊GeS堆垛的制备:
1)将上述得到的GeS膜,在电子显微镜下,通过探针剥离的方法,剥离得到合适的层数的GeS;
2)将1)中得到的GeS进行通过扩散、注入参杂工艺进行n型参杂,然后在电子显微镜下,使用探针进行剥离,移动层与层间的相对距离或进行层间的旋转变换,得到所要求的双层AD型GeS堆垛和双层旋转AB型GeS堆垛,最后再将二者通过层间的范德瓦尔斯力相互结合形成横向异质结;
3)使用2)中的参杂方法对结构进行p型参杂得到p型GeS上包覆层;
4)最后通过表面蒸镀金属的方法,在上、下层分别蒸镀一层金属层,作为上、下电极。
6.如权利要求4所述的异质结激光器的制备方法,其特征在于,步骤a.衬底的制备具体为:采用n-Si(111)片为衬底,用HF浸泡Si片去除表面的二氧化硅,然后使用丙醇、乙醇、去离子水对Si片进行多次清洗出去硅片表面异物,用氮气将Si片吹干,放入真空石英管中进行沉积处理;将石英管加热到300℃,维持10-15min,去除硅片表面的水汽。
7.如权利要求4所述的异质结激光器的制备方法,其特征在于,GeS薄膜制备的具体方法为:将计量比的锗氯化二噁烷络合物、硫脲、油酰胺OLA分别在空气中轻微的磁力搅拌;将搅拌后的液体混合物超声处理,除去油胺中的空气;随后连接到Schlenk线,抽真空,除去水分和氧气;在磁力搅拌下通氮气进行惰性气体保护;将处理过后的液体混合物加热,随着温度的升高,液体逐渐变成了黄色透明溶液,反应混合物在氮气流中回流反应,反应结束将溶液冷却至室温,沉淀离心分离,洗涤,将得到的薄膜附着在Si衬底上,真空干燥备用。
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