[发明专利]一种用于红外热成像设备校正的方法、装置、设备、介质有效
申请号: | 202110465868.9 | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN113194251B | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 康俊涛;黄伟强;李修权 | 申请(专利权)人: | 烟台艾睿光电科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/33;G02B7/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王晓坤 |
地址: | 264006 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 红外 成像 设备 校正 方法 装置 介质 | ||
本申请公开了用于红外热成像设备校正的方法、装置、设备、介质及系统,该方法包括获取包括多张图像的图像组;其中,图像组中的图像为变倍镜组和/或调焦镜组在不同位置时获得的红外图像;确定图像组中图像的亮度均匀性数值;根据亮度均匀性数值从图像组中确定校正图像;将与校正图像对应的变倍镜组和/或调焦镜组的位置确定为校正位置;将变倍镜组和/或调焦镜组调整到校正位置,以便红外热成像设备进行虚焦校正。本申请仅通过红外热成像设备自身的部件即可确定虚焦校正的位置,无需借助额外部件,降低成本,提升校正灵活性;且对使用场景没有要求,任何场景都可实现校正,应用范围广。
技术领域
本申请涉及红外成像技术领域,特别是涉及一种用于红外热成像设备校正的方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及系统。
背景技术
任何温度超过绝对零度的物体都会辐射红外线,红外热成像即是检测物体热辐射的红外线,并根据检测到的红外线进行成像,红外热成像设备中的红外探测器是影响成像质量的关键器件。红外探测器在长时间工作以后受到环境和设备热辐射的影响,每个像元对于相同热量的响应程度会有所差异,因此需要定期对红外探测器进行校正以保证每一个像元对同一热量的响应保持一致,从未维持良好的成像效果。
对红外热成像设备进行校正的方式有基于挡板的校正、基于外置黑体的校正。采用挡板校正时,需要借助均匀挡板;采用黑体校正时,需要借助黑体,且黑体的安装、使用便捷性给校正带来难度,且在恶劣坏境、空间受限环境及海上环境等场景中,外置黑体的布置无法实现。因此,无论是何种校正方式都需要外设校正部件来展开校正,不够灵活,成本高。
因此,如何解决上述技术问题应是本领域技术人员重点关注的。
发明内容
本申请的目的是提供一种用于红外热成像设备校正的方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及系统,以提升红外热成像设备校正的灵活性,降低成本,并且适用任何场景。
为解决上述技术问题,本申请提供一种用于红外热成像设备校正的方法,包括:
获取包括多张图像的图像组;其中,所述图像组中的图像为变倍镜组和/或调焦镜组在不同位置时获得的红外图像;
确定所述图像组中所述图像的亮度均匀性数值;
根据所述亮度均匀性数值从所述图像组中确定校正图像;
将与所述校正图像对应的所述变倍镜组和/或所述调焦镜组的位置确定为校正位置;
将所述变倍镜组和/或所述调焦镜组调整到所述校正位置,以便红外热成像设备进行虚焦校正。
可选的,所述确定所述图像组中所述图像的亮度均匀性数值包括:
确定所述图像中每个像元的亮度值;
利用预设算法根据所述亮度值确定所述亮度均匀性数值。
可选的,所述利用预设算法根据所述亮度值确定所述亮度均匀性数值包括:
利用预设公式确定所述亮度均匀性数值;其中,所述预设公式为:
式中,L为亮度均匀性数值,N为每个图像中亮度值的数量,μ为每个图像中亮度值的平均值,xi为第i个像元亮度值。
可选的,所述获取包括多张图像的图像组;其中,所述图像组中的图像为变倍镜组和调焦镜组在不同位置时获得的红外图像置包括:
步骤S1:发送第一转动指令至所述变倍组电机,以使所述变倍组电机位于第一行程内的第一初始位置;
步骤S2:发送第二转动指令至所述调焦组电机,以使所述调焦组电机位于第二行程内的第二初始位置;
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