[发明专利]一种键盘小红帽检测方法、装置和设备有效

专利信息
申请号: 202110467708.8 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113379673B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 付康林;刘浩;汪二虎 申请(专利权)人: 合肥联宝信息技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/73
代理公司: 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 代理人: 江宇
地址: 230000 安徽省合肥市经*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 键盘 小红帽 检测 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种键盘小红帽检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取键盘实物图像和对应的键盘模板图像;

基于所述键盘模板图像,确定每个键帽字母的轮廓以及每个字母的凸包;

基于每个键帽字母的轮廓和凸包,确定每个字母轮廓的凹凸程度;

基于每个字母的凹凸程度,确定键盘中的多个关键键位;

基于所确定的多个关键键位,确定所述键盘模板图像中包含多个所述关键键位的第一图像区域;

根据所确定的第一图像区域,从所述键盘实物图像中对应获取到包含多个所述关键键位的第二图像区域;

基于图像像素分析,确定所述第二图像区域中是否存在小红帽。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述键盘模板图像,确定每个键帽字母的轮廓以及每个字母的凸包,包括:

对所述键盘模板图像进行二值化处理,得到第一中间图像;

基于图像像素,从所述第一中间图像中获取每个键帽字母的轮廓;

基于每个键帽字母的轮廓,确定每个字母的凸包。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于每个键帽字母的轮廓和凸包,确定每个字母轮廓的凹凸程度,包括:

计算所述轮廓和凸包之间的最大像素间隔距离;

基于所述最大像素间隔距离,确定每个字母轮廓的凹凸程度。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述最大像素间隔距离,确定每个字母轮廓的凹凸程度,包括:

将所述最大像素间隔距离按照所述键盘实物图像和对应的键盘模板图像的图像比例大小,计算得到第一中间值;

对所计算得到的第一中间值进行归一化处理,得到第二中间值;

基于所述第二中间值,确定字母轮廓的凹凸程度。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述多个关键键位为键盘中G键、H键和B键;

相应的,所述第二中间值大于83mm~85mm。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于所确定的多个关键键位,确定所述键盘模板图像中包含多个所述关键键位的第一图像区域,包括:

根据所述G键、H键和B键的最凹点,分别所述G键、H键和B键在键盘中的位置;

基于所述G键、H键和B键在键盘中的位置,确定所述键盘模板图像中包含G键、H键和B键的第一图像区域。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于图像像素分析,确定所述第二图像区域中是否存在小红帽,包括:

将所述第二图像区域在HSV空间中显示;

在所述HSV空间中提高红色范围区域的亮度,并得到区域轮廓;

通过最大惯性度或圆率参数,判断所得到的区域轮廓是否为所述小红帽的轮廓,若判定为是,则进一步判断所述小红帽是否处于正确位置。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,在得到区域轮廓之后,所述方法还包括:

通过形态学去除所述区域轮廓中的噪声。

9.一种键盘小红帽检测装置,其特征在于,所述装置包括:

图像获取模块,用于获取键盘实物图像和对应的键盘模板图像;

字母轮廓计算模块,用于基于所述键盘模板图像,确定每个键帽字母的轮廓以及每个字母的凸包;

凹凸确定模块,用于基于每个键帽字母的轮廓和凸包,确定每个字母轮廓的凹凸程度;

键位确定模块,用于基于每个字母的凹凸程度,确定键盘中的多个关键键位;

第一图像区域获取模块,用于基于所确定的多个关键键位,确定所述键盘模板图像中包含多个所述关键键位的第一图像区域;

第二图像区域获取模块,用于根据所确定的第一图像区域,从所述键盘实物图像中对应获取到包含多个所述关键键位的第二图像区域;

小红帽判断模块,用于基于图像像素分析,确定所述第二图像区域中是否存在小红帽。

10.一种键盘小红帽检测设备,其特征在于,所述设备包括存储器和处理器;

所述存储器用于存储指令,所述指令用于控制所述处理器进行操作以执行时实现权利要求1-8任一项所述的键盘小红帽检测方法。

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