[发明专利]一种提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构在审
| 申请号： | 202110467778.3 | 申请日： | 2021-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN113203351A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 张怀武;吴永锐;金立川;钟智勇;白飞明 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;H01P3/00;H01P3/08 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 磁共振 测试 精度 平面 传输线 结构 | ||
1.一种提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，包括依次串联的第一级标准特性阻抗接地共面波导、第一级非标准微带线、中间级非标准特性阻抗接地共面波导、第二级非标准微带线和第二级标准特性阻抗接地共面波导；第一级标准特性阻抗接地共面波导，第二级标准特性阻抗接地共面波导，和由第一级非标准微带线、中间级非标准特性阻抗接地共面波导和第二级非标准微带线串联而成的传输线的特性阻抗均为50Ω；其中，中间级非标准特性阻抗接地共面波导的信号线宽度和槽间距均为工艺极限值。
2.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述第一级非标准微带线和第二级非标准微带线的长度均为四分之一中心频率波长。
3.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述第一级非标准微带线和第二级非标准微带线的特性阻抗ZMICROSRIP均与中间级非标准特性阻抗接地共面波导的特性阻抗ZGCPW满足：
其中，Z0为50Ω的标准特性阻抗。
4.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述工艺极限值为0.075～0.1mm。
5.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述第一级非标准微带线和第二级非标准微带线的信号线宽度均小于第一级标准特性阻抗接地共面波导、中间级非标准特性阻抗接地共面波导和第二级标准特性阻抗接地共面波导的信号线宽度与两倍槽间距的和。
6.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述第一级标准特性阻抗接地共面波导、中间级非标准特性阻抗接地共面波导和第二级标准特性阻抗接地共面波导的顶部接地金属带的等距边缘处通过金属化通孔与传输线背部接地金属带连接。
7.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述第一级标准特性阻抗接地共面波导、第一级非标准微带线、中间级非标准特性阻抗接地共面波导、第二级非标准微带线和第二级标准特性阻抗接地共面波导的介质衬底相同，为低介质损耗角衬底，相对介电常数低于10。
8.根据权利要求1所述提高铁磁共振线宽测试精度的平面传输线结构，其特征在于，所述第一级非标准微带线和第二级非标准微带线的结构相同。
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