[发明专利]一种确定液口距的方法和系统有效

专利信息
申请号: 202110468679.7 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113215653B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 严超;司泽;陈俊良;刘珂 申请(专利权)人: 北京图知天下科技有限责任公司
主分类号: C30B15/26 分类号: C30B15/26;C30B29/06
代理公司: 北京汇知杰知识产权代理有限公司 11587 代理人: 谭承世;董江虹
地址: 100089 北京市海淀区中*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 确定 液口距 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种确定液口距的方法,其特征在于,包括:

通过成像装置获取关于导流筒及其倒影的目标图像,所述目标图像示出导流筒的内侧下边缘和在熔融物液面上呈现的所述导流筒的内侧下边缘的倒影;

在所述目标图像中选取第一子图像和第二子图像,其中所述第一子图像包括第一端点和第三端点,并且所述第二子图像包括第二端点和第四端点,其中所述第一端点和第二端点之间的距离限定所述导流筒的内侧下边缘的最宽距离,所述第三端点和第四端点之间的距离限定所述导流筒的内侧下边缘的倒影的最宽距离;

在所述第一子图像和第二子图像中进而在所述目标图像中确定所述第一端点和第三端点的像素坐标以及所述第二端点和第四端点的像素坐标;

根据在所述目标图像中的所述第一端点和第二端点的像素坐标计算所述第一端点与所述第二端点之间的第一像素距离,以及根据在所述目标图像中的所述第三端点和第四端点的像素坐标计算所述第三端点与所述第四端点之间的第二像素距离;以及

至少根据所述导流筒的下边缘的实际内直径、所述第一像素距离、所述第二像素距离以及所述成像装置的镜头的参数,计算所述导流筒的下边缘到所述熔融物液面的液口距。

2.根据权利要求1所述的确定液口距的方法,其特征在于,

所述方法还包括:

根据在所述目标图像中的所述第一端点和第二端点的像素坐标计算所述第一端点或第二端点到所述目标图像的中心线的第三像素距离以及所述第三端点或第四端点到所述目标图像的中心线的第四像素距离,其中所述目标图像的中心线与所述导流筒的内侧下边缘的最宽距离的延伸方向或者所述内侧下边缘的倒影的最宽距离的延伸方向平行;以及

所述计算所述导流筒的下边缘到所述熔融物液面的液口距进一步包括:至少根据所述导流筒的下边缘的实际内直径、所述第一像素距离、所述第二像素距离、所述第三像素距离、所述第四像素距离以及所述成像装置的镜头的参数,计算所述导流筒的下边缘到所述熔融物液面的液口距。

3.根据权利要求1或2所述的确定液口距的方法,其特征在于,在所述第一子图像和第二子图像中确定所述第一端点和第三端点的像素坐标以及所述第二端点和第四端点的像素坐标,包括:

对所述第一子图像和第二子图像进行图像处理以分别获取第一像素坐标集合和第二像素坐标集合,其中所述第一像素坐标集合包括在所述第一子图像中位于所述导流筒的内侧下边缘与所述导流筒的内侧下边缘的倒影之间的全部像素的像素坐标,并且所述第二像素坐标集合包括在所述第二子图像中位于所述导流筒的内侧下边缘与所述导流筒的内侧下边缘的倒影之间的全部像素的像素坐标;以及

根据所述第一像素坐标集合确定所述第一端点和第三端点的像素坐标,并且根据所述第二像素坐标集合确定所述第二端点和第四端点的像素坐标。

4.根据权利要求3所述的确定液口距的方法,其特征在于,

所述根据所述第一像素坐标集合确定所述第一端点和第三端点的像素坐标,包括:

将所述第一像素坐标集合中的全部像素坐标按横坐标大小排序,以将所述第一像素坐标集合中的横坐标最小的像素坐标确定为所述第一端点的像素坐标,其中所述横坐标方向与所述导流筒的下边缘的最宽距离的延伸方向或者所述下边缘的倒影的最宽距离的延伸方向平行;以及

将所述第一像素坐标集合中的全部像素坐标分成多个第一像素坐标子集,所述多个第一像素坐标子集中的每个像素坐标具有相同的纵坐标,确定每个第一像素坐标子集中横坐标最大的像素坐标,并将所确定的所有横坐标最大的像素坐标中横坐标最小的像素坐标确定为第三端点的像素坐标;和/或,

所述根据所述第二像素坐标集合确定所述第二端点和第四端点的像素坐标,包括:

将所述第二像素坐标集合中的全部像素坐标按横坐标大小排序,以将所述第二像素坐标集合中的横坐标最大的像素坐标确定为所述第二端点的像素坐标;以及

将所述第二像素坐标集合中的全部像素坐标分成多个第二像素坐标子集,所述多个第二像素坐标子集中的每个像素坐标具有相同的纵坐标,确定每个第二像素坐标子集中横坐标最小的像素坐标,并将所确定的所有横坐标最小的像素坐标中横坐标最大的像素坐标确定为第四端点的像素坐标。

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