[发明专利]一种闭环检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202110470688.X | 申请日: | 2021-04-28 |
公开(公告)号: | CN113345006A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 顾升宇;曾灿灿;张小军 | 申请(专利权)人: | 视辰信息科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06T17/00 |
代理公司: | 上海大邦律师事务所 31252 | 代理人: | 郜少毅 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 闭环 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种闭环检测方法,其特征在于,包括:
S1:采集输入图像序列;
S2:执行闭环检测,得到两闭环帧A和B;
S3:计算所述两闭环帧A和B之间的位置偏差百分比,并基于所述百分比判断是否执行闭环优化。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S2中所述两闭环帧A和B为相似度大于或等于第一相似度的两图像帧,且图像帧B在时序上位于图像帧A之后。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S3中计算两闭环帧之间的位置偏差百分比,包括:
S31:计算两闭环帧A和B之间的位置偏差tab;
S32:计算从帧A到帧B之间每一帧图像的累计路径总长度Tab;
S33:所述位置偏差百分比设置为tab与Tab之间的百分比tab/Tab。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述S31中,计算两闭环帧A和B之间的位置偏差tab,包括:
S311:获取图像A的当前位置Ta;
S312:获取图像B的当前位置Tb;
S313:计算图像A和图像B之间的位置偏差tab=abs(Ta-Tb)。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述S32中,计算从帧A到帧B之间每一帧图像的累计路径总长度Tab,包括:
S321:获取图像A与图像B之间的每一帧图像C1...Cn,得到按时序排列的图像集合{A,C1,...,Cn,B},其中n为图像A与图像B之间的图像总帧数;
S322:计算所述图像集合{A,C1,...,Cn,B}中每相邻两帧之间的位置偏差;
S323:将所述每相邻两帧之间的位置偏差进行累加,得到所述累计路径总长度Tab。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述S3中,基于所述百分比判断是否执行闭环优化,包括:计算两闭环帧之间的位置偏差百分比,当所述百分比小于阈值th时,则判断闭环检测正确,并执行闭环优化。
7.一种闭环检测装置,其特征在于,包括:
图像采集模块,用于采集输入图像序列;
闭环检测模块,用于执行闭环检测,得到两闭环帧A和B;
闭环判断模块,用于计算所述两闭环帧A和B之间的位置偏差百分比,并基于所述百分比判断是否执行闭环优化。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述两闭环帧A和B为相似度大于或等于第一相似度的两图像帧,且图像帧B在时序上位于图像帧A之后。
9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述闭环判断模块包括:
位置偏差计算模块:用于计算两闭环帧A和B之间的位置偏差tab;
累计路径计算模块:用于计算从帧A到帧B之间每一帧图像的累计路径总长度Tab;
百分比计算模块:用于将所述位置偏差百分比设置为tab与Tab之间的百分比tab/Tab。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述位置偏差计算模块包括:
当前位置获取子模块:用于分别获取图像A和图像B的当前位置Ta和Tb;
位置偏差计算子模块:用于基于所述当前位置获取子模块获取的所述位置Ta和Tb,计算图像A和图像B之间的位置偏差tab=abs(Ta-Tb)。
11.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述累计路径计算模块,包括:
图像序列获取子模块:用于获取图像A与图像B之间的每一帧图像C1…Cn,得到按时序排列的图像集合{A,C1,...,Cn,B},其中n为图像A与图像B之间的图像总帧数;
相邻帧偏差计算子模块:用于计算所述图像集合{A,C1,...,Cn,B}中每相邻两帧之间的位置偏差;
累计路径计算子模块:用于将所述每相邻两帧之间的位置偏差进行累加,得到所述累计路径总长度Tab。
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