[发明专利]检测薄平板材料厚度一致性的超声反射谱方法

权利要求书

1.一种检测薄平板材料厚度一致性的超声反射谱方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1)、信号处理系统控制滑动水浸双探头并与PC机连接；

步骤2)、将待测薄板材料水平浸没在水中；

步骤3)、在该待测薄板材料水平位置设置X-轴；

步骤4)、所述信号处理系统发射驱动超声测试信号；

步骤5)、所述信号处理系统接收多频发射波信号并做实时频率域计算；

所述步骤5)实时频率域计算包括如下步骤：

1)、将待测薄板材料参照X-轴点X0的复频谱为H0(w)；

2)、在待测薄板材料另一X-轴点X1的复频谱为H1(w)；

3)、计算“反卷积”谱R(w)＝H1(w)/H0(w)；

4)、计算R(w)反傅里叶变换，得到其对应的时间域绝对值时间序列|r(t)|；

5)、归一化后，如果H1(w)＝H0(w)，那么|r(0)|＝1,而且|r(0)|是整个序列的最大值；即检测出平板材料的厚度一致性；

如果H1(w)与H0(w)值不同，那么，|r(t)|序列的峰值不会在t＝0处，并且峰值＜1；则，平板材料厚度不一致；

所述H0(w)，其中，w为角频率；所述频谱是复数，包含幅度和相位信息。

2.根据权利要求1所述检测薄平板材料厚度一致性的超声反射谱方法，其特征在于：所述信号处理系统包括信号发射模块和信号接收模块。

3.根据权利要求1所述检测薄平板材料厚度一致性的超声反射谱方法，其特征在于：所述信号处理系统通过探头滑动控制逻辑和接口控制该滑动水浸双探头。

4.根据权利要求3所述检测薄平板材料厚度一致性的超声反射谱方法，其特征在于：所述滑动水浸双探头包括发射信号模块和接收信号模块。

5.根据权利要求1所述检测薄平板材料厚度一致性的超声反射谱方法，其特征在于：所述信号处理系统通过网络通讯接口与PC机连接。