[发明专利]基于电子元件的红外测试系统

说明书

本发明提供的电子元件的红外测试系统，存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元，电源单元为所述红外测试系统供电；红外发射单元用于发射预设的红外测试信号，红外接收单元用于接收电子元件的返回信号，并将返回信号传递给处理单元；所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID；处理单元用于生成所述红外测试信号，对返回信号进行分析，得到电子元件的测试结果。该系统可以对电子元件进行红外通讯功能的批量测试，缩短测试时间，提高测试效率，克服现有技术一个一个电子元件测试的弊端。

技术领域

本发明属于电子电路技术领域，具体涉及基于电子元件的红外测试系统。

背景技术

现有一些电子元件为了实现功能的拓展，集成了红外通讯功能。这类电子元件的红外通讯功能在生产过程中需要进行测试，确认电子元件的红外通讯功能是否正常。现有的测试方法是依次对每个电子元件进行红外测试，但是如果需要测试的电子元件数量较多，就会导致测试时间较长、测试效率低下。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种基于电子元件的红外测试系统，缩短测试时间，提高测试效率。

一种电子元件的红外测试系统，包括处理单元、存储单元、红外发射单元、红外接收单元和电源单元；

其中存储单元、红外发射单元和红外接收单元分别连接至处理单元，电源单元为所述红外测试系统供电；

红外发射单元用于发射预设的红外测试信号，红外接收单元用于接收电子元件的返回信号，并将返回信号传递给处理单元；所述返回信号包括响应脉冲和电子元件ID；

处理单元用于生成所述红外测试信号，对返回信号进行分析，得到电子元件的测试结果。

优选地，所述处理单元具体用于：从返回信息中分离出所述响应脉冲和电子元件ID；判断响应脉冲是否与预设的响应信号一致，如果是，设置该电子元件ID对应的测试结果为正常，否则，设置该电子元件ID对应的测试结果为异常。

优选地，所述响应信号与所述红外测试信号相对应。

优选地，所述存储单元包括存储器U1，存储器U1的型号为24C02；

存储器U1的第一管脚、第二管脚、第三管脚和第四管脚相互连接，且通过电容CX8连接至高电平；存储器U1的第八管脚连接至高电平；

存储器U1的第五管脚、第六管脚和第七管脚连接至处理单元。

优选地，所述红外发射单元包括红外发射头L4和三极管Q2；三极管Q2的漏极接地，三极管Q2的源极反接所述红外发射头L4到高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R14连接至处理单元。

优选地，所述红外接收单元包括红外接收头U8，红外接收头U8的第一管脚与处理单元电连接，红外接收头U8的第二管脚接地，红外接收头U8的第三管脚连接至高电平。

优选地，该系统还包括分别与所述处理单元电连接的蜂鸣器单元和LED显示单元；

所述处理单元还用于当检测到异常的测试结果时，控制蜂鸣器单元启动；处理单元还用于根据各个电子元件ID的测试结果，控制LED显示单元中对应的发光二极管启动或关闭；

其中电子元件安装在测试架上，测试架上设有多个底座，每个底座安装一电子元件；所述电子元件ID为底座ID；每个底座对应一发光二极管。

优选地，所述显示单元包括若干个所述发光二极管；每个发光二极管的阳极接高电平，阴极通过一电阻连接至所述处理单元。

优选地，所述蜂鸣器单元包括三极管Q2和蜂鸣器；

三极管Q2的源极接高电平，三极管Q2的栅极通过电阻R39连接至处理单元，三极管Q2的漏极连接至蜂鸣器的一端子，蜂鸣器的另一端子通过电阻R19接地。