[发明专利]一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置，涉及天线测试技术领域，上述方法包括：获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强；利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件；将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所述第一垂轴面所在光场进行相位恢复后的相位。应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的相位恢复，能够提高相位恢复结果的准确度。

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种用于紧缩场测试中静区相 位恢复的方法及装置。

背景技术

紧缩场测试方法是一种在狭小空间中利用光的反射原理获取平面波进而 对待测天线进行测试的天线测试方法。在紧缩场测试方法中，主要是基于静区 中光场的幅值和相位，获得待测天线的性能参数。其中，光场的幅值可以直接 用仪器测量得到，而光场的相位不能用仪器测量得到，为此需要通过相位恢复 方法对静区中光场的相位进行恢复。上述静区是指紧缩场中平面波所在的区域。

现有技术中，一般基于G-S(Gerchbera-Saxton)恢复静区中光场的相位。 这种情况下，通常将平面所在光场的初始相位预先设定为一固定值，然后在上 述初始相位的基础上，实现基于G-S的静区中光场的相位恢复。

但是由于在紧缩场中，探针扫描支架的抖动会导致光场出现偏移，这样上 述初始相位实际上并非为固定不变的值，所以，应用上述现有技术恢复静区中 光场的相位时结果准确度低。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方 法及装置，以提高恢复静区中光场的相位时结果的准确度。具体技术方案如 下：

第一方面，本发明实施例提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方 法，所述方法包括：

获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在 光场的第二幅值和第二光强，其中，所述第一垂轴面和第二垂轴面为：紧缩场 中静区内按照光的传播方向依次排列、且与光的传播方向垂直的面；

利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定 的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；

基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信 号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件，其中，所述待调整复振幅信 号的初始值为：相位为所述初始相位、且幅值为所述第一幅值的复振幅信号；

将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所述第一垂轴面所在 光场进行相位恢复后的相位。

本发明的一个实施例中，所述获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一 光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强，包括：

获取紧缩场中静区内按照光的传播方向依次排列的第一垂轴面所在光场 的第一幅值和第二垂轴面所在光场的第二幅值；

根据光强与振幅之间的对应关系，获得所述第一垂轴面所在光场的第一光 强和第二垂轴面所在光场的第二光强。

本发明的一个实施例中，所述光强与振幅之间的对应关系为光强大小等于 振幅大小的平方。

本发明的一个实施例中，所述相位随光强的变化关系按照以下表达式表示：

其中，λ表示波长，I表示光强，表示垂直于光的传播方向的平面的微 分算子，表示相位，分别表示在空间坐标系中沿X、Y、Z轴 方向上取偏微分操作，i、j、k分别表示X、Y、Z轴方向上的单位矢量。