[发明专利]对定位不正确的读取电压的检测在审

专利信息
申请号: 202110480195.4 申请日: 2021-04-30
公开(公告)号: CN113628662A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: S·帕塔萨拉蒂;J·菲兹帕特里克;P·R·哈亚特;A·S·埃侯赛因 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12;G11C29/20;G11C29/42
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 定位 不正确 读取 电压 检测
【权利要求书】:

1.一种存储器装置,其包括:

集成电路封装,其围封所述存储器装置;以及

多个存储器单元群组,其形成于至少一个集成电路裸片上;

其中响应于识别所述多个群组内的存储器单元群组的命令,所述存储器装置配置成

对所述存储器单元群组进行编程以在每一存储器单元中存储多个位,所述存储器单元群组包含分别对应于每一存储器单元的所述多个位的多个页;

确定所述存储器单元群组的多个读取电压;

使用所述多个读取电压读取所述多个页;

针对所述多个页中的每一相应页,确定所述相应页中第一存储器单元的计数,其中所述第一存储器单元中的每一个的阈值电压高于用于读取所述相应页的所述多个读取电压中最高的读取电压;以及

将所述第一存储器单元的所述计数与所述相应页中存储器单元的一部分的预定范围进行比较,以评估所述多个读取电压。

2.根据权利要求1所述的存储器装置,其中为确定所述多个读取电压中的每一相应读取电压,所述存储器装置配置成:

在均匀分布在测试电压范围内的多个测试电压下读取所述存储器单元群组;

分别确定所述测试电压下的位计数,其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中存储器单元的数目,所述存储器单元当在所述测试电压下进行读取时提供预定位值;

针对所述测试电压中的多对邻近电压计算所述位计数中的计数差,其中所述测试电压中的一对邻近电压之间的电压间隔的每一计数差为所述一对邻近电压的位计数之差;以及

基于所述计数差确定所述相应读取电压。

3.根据权利要求2所述的存储器装置,其中当第一测试电压间隔上的第一计数差不大于低于所述第一测试电压间隔的第二测试电压间隔上的第二计数差和高于所述第一测试电压间隔的第三测试电压间隔上的第三计数差时,所述存储器装置配置成基于以下两者之间的比率计算所述相应读取电压:

从所述第一计数差到所述第二计数差的增加量,以及

从所述第一计数差到所述第三计数差的增加量。

4.根据权利要求2所述的存储器装置,其中当第一测试电压间隔上的第一计数差不大于均低于或均高于所述第一测试电压间隔的测试电压间隔上的至少两个计数差时,所述存储器装置配置成基于以下两者之间的比率计算所述相应读取电压:

所述第一计数差,以及

所述至少两个计数差中的在最接近于所述第一测试电压间隔的测试电压间隔上的第二计数差。

5.根据权利要求4所述的存储器装置,其中用于确定所述多个读取电压的测试电压范围并不彼此重叠。

6.根据权利要求5所述的存储器装置,其中响应于确定所述第一存储器单元的所述计数超出所述部分的所述预定范围,所述存储器装置确定所述测试电压范围中的至少一个定位不正确。

7.根据权利要求6所述的存储器装置,其中响应于确定所述第一存储器单元的所述计数超出所述部分的所述预定范围,所述存储器装置配置成搜索测试电压范围以用于校准所述存储器单元群组的读取电压。

8.根据权利要求6所述的存储器装置,其中响应于确定所述第一存储器单元的所述计数超出所述部分的所述预定范围,所述存储器装置配置成提供对所述命令的响应,所述响应表明搜索测试电压范围以用于校准所述存储器单元群组的读取电压。

9.根据权利要求6所述的存储器装置,其中所述存储器单元群组以四层单元QLC模式编程。

10.根据权利要求9所述的存储器装置,其中所述部分的所述预定范围在1/32与3/32之间、3/32与5/32之间、7/32与9/32之间或15/32与17/32之间。

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