[发明专利]一种芯片验证方法、装置及系统

权利要求书

1.一种芯片验证方法，其特征在于，应用于分析设备中，所述分析设备与测试设备相连，所述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，所述被测芯片包括流量管理模块，其中所述测试设备将流量通过所述速率转换设备转发至所述被测芯片中的流量管理模块，所述测试设备通过所述速率转换设备接收所述流量管理模块转发的流量；所述方法包括：

获取所述测试设备在采样周期开始时所述测试设备所统计的第一累计流量；

获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；

根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；

根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；

若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求；

其中，所述第一累计流量和所述第二累计流量为所述测试设备对所述被测芯片中的流量管理模块进行测试时所处理的流量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述流量转发能力包括流量转发速率；则

根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力，包括：

确定所述第二累计流量与所述第一累计流量之间的流量差值；

将所述流量差值与所述实际测试周期之间的比值确定为所述流量管理模块的流量转发速率；

以及，若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求，包括：

若所述流量转发速率在设定速率范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述采样周期和降频比，计算所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期，包括：

将所述采样周期与所述降频比之间的比值确定为所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一累计流量和所述第二累计流量用字节数表征。

5.一种芯片验证装置，其特征在于，设置于分析设备中，所述分析设备与测试设备相连，所述测试设备通过速率转换设备与运行被测芯片的仿真平台相连，所述被测芯片包括流量管理模块，其中所述测试设备将流量通过所述速率转换设备转发至所述被测芯片中的流量管理模块，所述测试设备通过所述速率转换设备接收所述流量管理模块转发的流量；所述装置包括：

获取模块，用于获取所述测试设备在采样周期开始时所述测试设备所统计的第一累计流量；

所述获取模块，还用于获取所述测试设备在采样周期结束时所述测试设备所统计的第二累计流量；

第一计算模块，用于根据所述采样周期和降频比，确定所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期；

第二计算模块，用于根据所述第一累计流量、所述第二累计流量和所述实际测试周期，计算所述流量管理模块的流量转发能力；

确认模块，用于若所述流量转发能力在设定能力范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求；

其中，所述第一累计流量和所述第二累计流量为所述测试设备对所述被测芯片中的流量管理模块进行测试时所处理的流量。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述流量转发能力包括流量转发速率；则

所述第二计算模块，具体用于确定所述第二累计流量与所述第一累计流量之间的流量差值；将所述流量差值与所述实际测试周期之间的比值确定为所述流量管理模块的流量转发速率；

所述确认模块，具体用于若所述流量转发速率在设定速率范围内，则确认所述被测芯片的流量管理模块符合设计要求。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述第一计算模块，具体用于将所述采样周期与所述降频比之间的比值确定为所述被测芯片在仿真环境下的实际测试周期。