[发明专利]ICT测试设备

说明书

本发明公开了一种ICT测试设备，涉及主板测试领域，包括机架，所述机架上设置有第一测试机构和第二测试机构，所述第一测试机构和第二测试机构的一侧均设置有快换机构，所述第一测试机构包括第一测试治具上模和第一测试治具下模，所述机架上设置有第一传动机构、第二传动机构和第三传动机构，所述第一传动机构的下方设置有第一升降机构，所述第二传动机构的下方设置有第二升降机构，还包括控制机构和设置在第一传动机构首端的扫码机构，本发明中的快换机构使得本测试设备能够快速更换测试治具，节约时间，提高更换治具的效率，所述机架设置成两层，仪器仪表设置在上层，节省空间，降低成本。

技术领域

本发明涉及主板测试领域，特别涉及一种ICT测试设备。

背景技术

现有的ICT测试设备在换线时较为麻烦，需要将很多的排线从测试治具上一个一个的拔下，然后再将排线一个一个的插在更换后的测试治具上，需要较长的时间，更换效率低。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种能够快速更换测试治具、效率高、占地面积小的ICT测试设备。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：ICT测试设备，包括机架，所述机架上设置有第一测试机构和第二测试机构，所述第一测试机构和第二测试机构的一侧均设置有快换机构，所述第一测试机构包括第一测试治具上模和第一测试治具下模，所述第二测试机构包括第二测试治具上模和第二测试治具下模，所述机架上设置有第一传动机构、第二传动机构和第三传动机构，所述第一传动机构设置在第一测试治具上模和第一测试治具下模之间，所述第二传动机构设置在第一测试机构和第二测试机构之间，所述第三传动机构设置在第二测试治具上模和第二测试治具下模之间，所述第一测试机构和第二测试机构用于对主板的两个面进行测试，所述快换机构使得本测试设备能够快速更换测试治具，节约时间，提高更换治具的效率，所述第一测试治具上模和第一测试治具下模配合对主板进行性能测试，第一传动机构、第二传动机构和第三传动机构用于带动主板进行传动，所述主板为待测试的产品；

所述第一传动机构的下方设置有用于带动第一传动机构升降的第一升降机构，所述第二传动机构的下方设置有用于带动第二传动机构升降的第二升降机构，还包括用于控制ICT测试设备的控制机构和设置在第一传动机构首端的扫码机构，所述第一测试机构、第二测试机构、快换机构、第一传动机构、第二传动机构、第三传动机构、第一升降机构、第二升降机构和扫码机构分别与控制机构电气连接，所述第一升降机构用于带动第一传动机构升降，从而将主板放置到第一测试治具下模上待测试，所述控制机构用于控制ICT测试设备。

进一步的是：所述第一测试机构和第二测试机构结构相同。

进一步的是：所述第一测试治具上模和第一测试治具下模的一侧均设置有快换机构。

进一步的是：所述第一测试治具上模靠近快换机构的一侧设置有连接针，所述快换机构靠近第一测试治具上模的一侧上设置有第一连接孔，所述第一连接孔与连接针插拔连接，使得便于更换测试治具；

所述快换机构远离第一测试治具上模的一侧设置有用于与设备连接的第二连接孔。

进一步的是：所述第一测试治具上模和快换机构之间设置有真空吸附组件，所述真空吸附组件用于快速将第一测试治具上模和快换机构吸附到一起。

所述快换机构的两侧对称设置有用于推动快换机构的第一气缸，所述第一气缸与控制机构电气连接，所述第一气缸用于推动快换机构，使得第一测试治具下模和快换机构吸附到一起；

所述第一测试治具上模的边角处设置有定位孔，所述快换机构上与定位孔对应位置处设置有定位柱，所述定位柱与定位孔插拔连接，所述定位孔和定位柱配合对快换机构进行对位，防止快换机构在移动的过程中跑偏。