[发明专利]一种微波器件测试夹具

说明书

本发明涉及一种微波器件测试夹具，包括微波器件压紧装置、夹紧扣死装置以及测试平台，测试平台中间设有辅助器件安装空间，其上的SMA对接孔、探针组对接孔、温度传感器对接孔贯穿所述测试平台与微波器件测试空间相连通，辅助器件安装空间内设置有辅助器件安装块；微波器件压紧装置设置在微波器件测试空间上端，夹紧扣死装置设置在微波器件压紧装置前侧。该夹具采用旋钮式压紧微波器件方式，无需螺钉紧固，增加微波器件抬升装置，使紧密配合的微波器件和测试平台更容易平行分离，同时将测试平台和散热平台一体化设计，增加限位装置，保证了测试的精度并提高了微波器件的测试效率，使测试过程更加方便，节约时间，降低人工成本。

技术领域

本发明涉及半导体器件测试领域，特别涉及一种微波器件测试夹具。

背景技术

目前半导体市场在高速发展，微波器件的种类也日益增加，作为电子设备的基本单元，微波器件必须保证其性能的可靠性，微波器件的测试验收就必不可少，因而微波器件的测试任务也就愈发繁重，然而市面上目前存在的微波器件测试夹具不仅使用效率低下，而且操作困难、繁琐。

发明内容

本发明为了克服背景技术中微波器件测试存在的上述缺陷问题，提供了一种微波器件测试夹具。

本发明所采用的技术方案如下：一种微波器件测试夹具，该测试夹具包括微波器件压紧装置、夹紧扣死装置以及测试平台，所述微波器件压紧装置、夹紧扣死装置以及测试平台共同形成微波器件测试空间，所述测试平台中间设有辅助器件安装空间，所述辅助器件安装空间上设置有SMA对接孔、探针组对接孔、温度传感器对接孔，所述SMA对接孔、探针组对接孔、温度传感器对接孔贯穿所述测试平台与微波器件测试空间相联通，所述辅助器件安装空间内设置有辅助器件安装块；所述微波器件压紧装置设置在微波器件测试空间上端，用于向下压紧放置在微波器件测试空间内的微波器件，使其与SMA对接孔、探针组对接孔、温度传感器对接孔接触紧密；所述夹紧扣死装置设置在微波器件压紧装置前侧。

进一步地，所述微波器件测试空间内部设置有微波器件定位装置，微波器件定位装置在微波器件测试空间内左右对称分布，对微波器件进行定位与限位。

进一步地，所述微波器件压紧装置包括后立壁，所述后立壁上侧设置上压板，所述上压板的后端面与后立壁上端面通过旋转销旋转连接，所述上压板、旋转销、后立壁通过第一扭簧支撑连接，使自然状态下后立壁与上压板之间大于120度；所述上压板中间设置贯穿螺纹孔，所述螺纹孔螺纹配合旋钮，所述旋钮下端面设置压块盖，所述压块盖下端面螺纹固定连接有压块，所述压块内部设置有压脚安装空间，所述压脚安装空间内部滑动放置有塑料压脚，所述塑料压脚下端面伸出压脚安装空间，所述塑料压脚上端面弹性连接于第一弹簧的下表面，所述第一弹簧的上端面与压块盖的下表面弹性连接，所述压块的内部设置有半螺纹固定销安装空间，所述半螺纹固定销安装空间内部设置有半螺纹固定销，所述半螺纹固定销的上端面穿透半螺纹固定销安装空间与压块盖螺纹连接与上压板，所述半螺纹固定销滑动套有第一弹簧，所述第一弹簧的下端面与所述半螺纹定位销的下侧配合，所述第一弹簧的上端面与所述压块盖的下端面配合。

进一步地，所述夹紧扣死装置包括卡扣，所述卡扣的上侧下端面配合有第二弹簧，卡扣通过第二弹簧与所述上压板的前端面旋转连接，卡扣的末端设有向内的勾脚，所述卡扣的下侧设置有前立壁，前立壁上设有导向槽和限位孔，所述前立壁的下端面与所述测试平台上端面通过螺钉固定连接。

进一步地，所述测试平台上设置有左右对称的运动空间，所述运动空间内设置有一抬升装置。

进一步地，所述抬升装置包括力臂座，所述立壁座的下端面与所述测试平台的上端面固定连接，所述力臂座的上端旋转连接设置有力臂，所述力臂下端设置限位销，所述力臂中间设置有第二扭簧，所述第二扭簧与所述力臂和所述力臂座之间机械配合，所述第二扭簧始终处于压缩状态。

进一步地，所述测试平台下端设有散热齿。