[发明专利]控制电光探针增益和灵敏度的方法

说明书

本发明涉及控制电光探针增益和灵敏度的方法。一种控制测试和测量系统的增益或灵敏度的方法。该测试和测量系统包括主机、具有光发射器和光接收器的控制器、光电转换器、配件头以及被测试装置。该方法包括确定是否需要该测试和测量系统的增益或灵敏度调节，确定增益或灵敏度调节的量，以及响应于该测试和测量系统的增益或灵敏度调节的确定来调节该光发射器的激光器的输出功率。

本申请为分案申请，其母案的发明名称为“控制电光探针增益和灵敏度的方法”，申请日为2014年12月18日，申请号为201410787342.2。

技术领域

本公开一般涉及测试和测量系统以及信号采集配件，以及更具体地说，涉及使用光学传感器的信号采集配件。

背景技术

在电子工业中存在对于用以测量电信号的测试和测量仪器（诸如示波器、逻辑分析仪等）的日益增长的需求，该电信号被电流隔离并包含较高频率内容。测量被电流隔离并具有较高频率内容的电信号的一种方式是使用电光探针。

传统上，电光探针的增益和灵敏度是通过控制光电转换器的可变增益放大器而进行调节的。控制光电转换器的可变增益导致更高的灵敏度，但是导致测试和测量系统的总体带宽和频率响应上的降低。即，在已经发射光束并在被测试装置（DUT）处已经进行测量之后，在光电转换器处调节用于测试和测量系统的增益和/或灵敏度。通常，电光探针还需要用户开发专用集成电路（ASIC）以实现电光探针的期望参数。为了实现具有可调节增益的能力，动态范围、噪声、频率和带宽响应以及总体系统复杂性必须被折衷。

发明内容

所公开技术的某些实施例包括一种控制测试和测量系统的增益或灵敏度的方法。该测试和测量系统包括主机、具有光发射器和光接收器的控制器、配件头以及被测试装置。该方法包括确定是否需要测试和测量系统的增益或灵敏度调节、确定增益或灵敏度调节的量、以及响应于测试和测量系统的增益或灵敏度调节的确定来调节光发射器的激光器的输出功率。

所公开技术的某些实施例还包括一种测试和测量系统，其包括被测试装置、主机、具有连接到该被测试装置的光学传感器的配件头、以及连接到该配件头和主机的控制器。该控制器包括具有激光器的光发射器、光接收器以及光电转换器。该控制器被配置为调节光发射器的激光器的输出以调节来自被测试装置的测量的增益或灵敏度。

附图说明

图1图示了根据所公开技术的测试和测量系统。

图2图示了根据所公开技术的测试和测量系统的框图。

具体实施方式

在不一定按比例的附图中，所公开的系统和方法的相同或对应的元素由相同的附图标记来表示。

所公开技术的测试和测量系统具有使用配件头104中的光学传感器来从DUT 106感测被测试信号的测量的能力。参照图1，图示了一种测试和测量系统，其包括主机100、配件头104、以及从配件头104延伸到控制器102的光传输路径108。配件头104被连接到DUT106。控制器包含将光信号提供给配件头104以及将返回的光信号转换为电信号所需的信号采集探测电路。然后控制器102将得到的测量发送到主机100。

表示从控制器102输出的来自DUT 106的所测量信号的电信号被耦合到主机100内的采集电路，其将电信号转换成数字数据值，并将数据值存储在存储器（未示出）中或在显示器110上显示该数据。

图2是测试和测量系统的框图。如先前所述，测试和测量系统包括主机100、控制器102、配件头104和DUT 106。