[发明专利]一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置在审
申请号: | 202110489191.2 | 申请日: | 2021-04-30 |
公开(公告)号: | CN113078478A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 李志平;刘佳琪;艾夏;赵永衡;霍鹏;王正鹏;武建华 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学;北京航天长征飞行器研究所 |
主分类号: | H01Q15/16 | 分类号: | H01Q15/16;H01Q1/50;H01Q3/18;H01Q3/28;H01Q3/30;H01Q21/06;H01Q21/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 张乾桢;江亚平 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阵列 馈电 离轴静区 紧缩 装置 | ||
1.一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:该装置包括紧缩场反射面、馈源、馈源偏焦控制系统,还设置有等效的电磁环境静区,其中,
所述的紧缩场反射面为一抛物面,中心实体部分为旋转抛物面或球面,边缘经过锯齿或卷曲处理,用于将激励源发出的电磁波反射后紧缩地在指定区域形成所需的平面波波前;
所述的馈源,是一馈电单元幅相单独可控的馈源阵列,通过给馈源阵列各单元独立赋预定的幅度和相位权值,在静区综合出高质量的平面波前;
所述的馈源偏焦控制系统,是通过机械电子设备调整馈源的位置,使得馈源偏焦,进而实现电磁波束辐射方向的调整,控制静区位置;
所述的等效电磁环境静区,是由在焦或偏焦的馈源阵照射反射面后二次辐射形成的平面波电磁场区域,其包括在轴和离轴的所有情况,用于天线测量、雷达隐身测试。
2.如权利要求1所述的一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:馈电方式为馈源阵列馈电,通过给馈源阵列各天线单元独立赋合适的幅度和相位权值,可在紧缩场静区内综合出高质量的平面波前所述合适的幅度和相位权值是指能够补偿因馈源偏焦而引起的波程差的权值。
3.如权利要求1所述的一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:利用紧缩场偏焦控制系统调控馈源阵列位置,包括在焦和偏焦,改变紧缩场主波束的辐射方向,进而在一定范围内控制平面波静区场的位置。
4.如权利要求1所述的一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:等效的电磁环境静区位置由馈源位置间接可控,包括在轴和离轴,即静区几何中心位于或偏离过紧缩场反射面等效口径几何中心的口径法线上的口径法线上所有情况。
5.如权利要求1所述的一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:所述的等效的电磁环境静区能应用于无线电系统的发射链路测试、接收链路测试和收发链路测试。
6.如权利要求1所述的一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:
所述平面波前综合所依赖的馈源阵列的实现,包括相控阵天线、反射阵天线、透射阵天线。
7.如权利要求1所述的一种阵列馈电的离轴静区紧缩场装置,其特征在于:
所述平面波前综合所依赖的紧缩场反射面,包括单反射面、双柱面、格里高利式或卡塞格伦式、多反射面。
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