[发明专利]计算经优化读取电压

说明书

本申请涉及计算经优化读取电压。一种存储器装置，其用以通过以下操作来确定经优化以读取存储器单元群组的电压：在多个测试电压下读取所述存储器单元群组，分别在所述测试电压下计算位计数，以及计算所述测试电压中的邻近电压对的所述位计数中的计数差。当在根据电压的所述计数差的分布的一侧发现所述计数差中的最小一者时，所述存储器装置被配置成基于第一计数差与第二计数差之间的比率来确定经优化读取电压的位置，其中所述第一计数差是所述计数差中最小的，且所述第二计数差在电压上最接近于所述第一计数差。

技术领域

本文所公开的至少一些实施例大体上涉及存储器系统，且更确切地说，但不限于被配置成计算用于从存储器单元读取数据的经优化电压的存储器系统。

背景技术

存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说，主机系统可以利用存储器子系统以在存储器装置处存储数据且从存储器装置检索数据。

发明内容

一方面，本申请涉及一种存储器装置，其包括：集成电路封装，其围封所述存储器装置；以及多个存储器单元群组，其形成于至少一个集成电路裸片上；其中响应于标识所述多个群组内的存储器单元群组的命令，所述存储器装置被配置成：在多个测试电压下读取所述存储器单元群组；分别确定所述测试电压下的位计数，其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中存储器单元的数目，所述存储器单元当在所述测试电压下进行读取时提供预定位值；计算所述测试电压中的邻近电压对的所述位计数中的计数差，其中所述测试电压中的邻近电压对之间的电压间隔的每一计数差是所述邻近电压对的位计数之间的差；在所述计数差当中标识不大于所述计数差中的至少两个的第一计数差，其中所述第一计数差具有不在所述计数差中的所述至少两个的两个电压间隔之间的电压间隔；并且基于所述第一计数差与第二计数差之间的比率来确定所述第一计数差的所述电压间隔中的经优化读取电压的位置，所述第二计数差具有最接近于所述计数差中的所述至少两个中的所述第一计数差的所述电压间隔的电压间隔。

另一方面，本申请进一步提供一种方法，其包括：在多个测试电压下读取存储器装置中的存储器单元群组；分别确定所述测试电压下的位计数，其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中存储器单元的数目，所述存储器单元当在所述测试电压下进行读取时提供预定位值；计算所述测试电压中的邻近电压对的所述位计数中的计数差，其中所述测试电压中的邻近电压对之间的电压间隔的每一计数差是所述邻近电压对的位计数之间的差；在所述计数差当中标识不大于所述计数差中的至少两个的第一计数差，其中所述第一计数差具有不在所述计数差中的所述至少两个的两个电压间隔之间的电压间隔；并且基于所述第一计数差与第二计数差之间的比率来确定所述第一计数差的所述电压间隔中的经优化读取电压的位置，所述第二计数差具有最接近于所述计数差中的所述至少两个中的所述第一计数差的所述电压间隔的电压间隔。

又一方面，本申请进一步提供一种存储器子系统，其包括：处理装置；以及至少一个存储器装置，所述存储器装置具有形成于集成电路裸片上的存储器单元群组；其中所述处理装置被配置成将具有标识所述存储器单元群组的地址的命令传输到所述存储器装置；其中响应于所述命令，所述存储器装置被配置成：在多个测试电压下读取所述存储器单元群组；分别确定所述测试电压下的位计数，其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中存储器单元的数目，所述存储器单元当在所述测试电压下进行读取时提供预定位值；计算所述测试电压中的邻近电压对的所述位计数中的计数差，其中所述测试电压中的邻近电压对之间的电压间隔的每一计数差是所述邻近电压对的位计数之间的差；比较所述计数差；在所述计数差当中标识不大于所述计数差中的至少两个的第一计数差，其中所述第一计数差具有不在所述计数差中的所述至少两个的两个电压间隔之间的电压间隔；并且基于所述第一计数差与第二计数差之间的比率来确定所述第一计数差的所述电压间隔中的经优化读取电压的位置，所述第二计数差具有最接近于所述计数差中的所述至少两个中的所述第一计数差的所述电压间隔的电压间隔。

附图说明

在附图的图中作为实例而非限制示出了实施例，在附图中，相同的参考标号指示类似的元件。