[发明专利]一种原料异物识别方法、系统、介质及电子终端

权利要求书

1.一种原料异物识别方法，其特征在于，包括：

采集原始原料图像；

将所述原始原料图像输入轮廓分割神经网络进行训练，获取轮廓分割模型；

获取待识别图像；

将所述待识别图像输入轮廓分割模型进行轮廓分割，获取所述待识别图像中的原料颗粒关联信息，所述原料颗粒关联信息至少包括以下之一：颗粒轮廓信息和颗粒表面信息；

根据所述原料颗粒关联信息，进行原料异物识别。

2.根据权利要求1所述的原料异物识别方法，其特征在于，获取所述待识别图像中的原料颗粒关联信息的步骤包括：

将所述待识别图像输入轮廓分割模型进行轮廓分割，获取所述待识别图像中颗粒轮廓信息，所述颗粒轮廓信息包括：待识别颗粒的等效直径；

判断所述待识别颗粒的等效直径是否超出预设的尺寸阈值，获取异物候选颗粒；

根据所述异物候选颗粒，进行原料异物识别。

3.根据权利要求2所述的原料异物识别方法，其特征在于，根据所述异物候选颗粒，进行原料异物识别的步骤包括：

获取所述异物候选颗粒的颗粒表面信息，所述颗粒表面信息至少包括以下之一：颗粒颜色RGB像素值、颗粒表面线条数量；

根据所述颗粒表面信息，确定所述待识别图像中的异物。

4.根据权利要求1所述的原料异物识别方法，其特征在于，所述颗粒轮廓信息为所述待识别图像中的封闭原料轮廓中非封闭的原料颗粒轮廓的信息，所述颗粒轮廓信息还包括：颗粒面积和颗粒周长；

根据所述颗粒面积和颗粒周长，获取待识别颗粒的等效直径，进而获取异物候选颗粒；

获取异物候选颗粒的数学表达为：

D-D_average≥Threshold_D

其中，D为待识别颗粒的等效直径，D_average为预先设置的物料颗粒等效直径平均值，Threshold_D为预先设置的尺寸阈值，P为颗粒周长，S为颗粒面积，k为预设系数。

5.根据权利要求3所述的原料异物识别方法，其特征在于，获取颗粒颜色RGB像素值的步骤包括：

在所述待识别图像建立参考坐标系，进而确定所述异物候选颗粒在所述参考坐标系的位置信息；

根据所述位置信息，获取所述异物候选颗粒的颗粒颜色RGB像素值；

获取所述异物候选颗粒的颗粒颜色RGB像素值的数学表达为：

其中，S是颗粒面积，C(i,j)是颗粒轮廓范围内坐标为(i,j)的RGB中任一通道像素值，C₁是异物候选颗粒的颗粒颜色RGB像素值。

6.根据权利要求3所述的原料异物识别方法，其特征在于，获取颗粒表面线条数量的步骤包括：

构建边缘检测网络；

将训练数据集输入所述边缘检测网络进行训练，获取边缘检测模型；

将所述待识别图像输入所述边缘检测模型进行边缘检测，获取所述异物候选颗粒的颗粒表面线条数量。