[发明专利]一种电磁场与电磁波的实验装置及实验方法有效
申请号: | 202110491325.4 | 申请日: | 2021-05-06 |
公开(公告)号: | CN113160673B | 公开(公告)日: | 2022-01-21 |
发明(设计)人: | 崔维新 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G09B23/18 | 分类号: | G09B23/18 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 杜阳阳 |
地址: | 102206 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电磁场 电磁波 实验 装置 方法 | ||
1.一种电磁场与电磁波的实验装置,其特征在于,所述实验装置包括抛物面反射器、微波馈源及带有微波吸收材料的测试标尺;
所述微波馈源设置在所述抛物面反射器的焦点位置;所述微波馈源用于向所述抛物面反射器发射微波信号;
所述测试标尺设置在所述抛物面反射器的反射方向上,所述测试标尺用于吸收所述抛物面反射器反射的微波信号;
所述实验装置还包括两个反射面和光源;
两个所述反射面分别竖直设置在所述抛物面反射器的内壁边缘与内壁边缘的水平方向直径的两个交点位置;
所述光源设置在所述抛物面反射器的焦点位置,所述光源用于向两个所述反射面发射光信号;
两个所述反射面反射的光信号照射到所述测试标尺上;实验时,通过调整所述测试标尺的位置使两个所述反射面反射的光信号照射到所述测试标尺上的两个校准区域;
两个所述校准区域的中心距离为,其中,为抛物面反射器的口径,为抛物面反射器口径边缘与测试标尺的距离,为抛物面反射器在反射信号时的1/2主瓣宽度;
所述测试标尺上设置有微波吸收材料的区域为吸收区域,所述吸收区域至少覆盖抛物面反射器反射的微波信号到达所述测试标尺时的传播范围,所述传播范围为直径为的圆形区域;其中,为抛物面反射器的口径,为抛物面反射器口径边缘与测试标尺的距离,为抛物面反射器在反射信号时的1/2主瓣宽度;
抛物面反射器在反射信号时的1/2主瓣宽度为11.5°。
2.根据权利要求1所述的电磁场与电磁波的实验装置,其特征在于,所述实验装置还包括:滑动双导轨、接收天线和反射板;
所述接收天线、所述反射板均可滑动的设置在所述滑动双导轨上。
3.根据权利要求2所述的电磁场与电磁波的实验装置,其特征在于,所述滑动双导轨上设置有长度测量标尺。
4.根据权利要求1所述的电磁场与电磁波的实验装置,其特征在于,所述实验装置还包括微波信号源,所述微波信号源与所述微波馈源连接。
5.一种应用权利要求1-4任一项所述的电磁场与电磁波的实验装置的实验方法,其特征在于,所述实验方法包括如下步骤:
打开所述实验装置的光源,调整所述实验装置的测试标尺和/或抛物面反射器的位置,直到所述抛物面反射器的口径的中心位置、接收天线的中心位置和测试标尺的中心位置在同一轴线上,且实验装置的两个反射面反射的光信号照射到所述测试标尺上的两个校准区域,关闭所述光源;
打开所述微波馈源;
调整所述实验装置的接收天线的位置,以确定所述实验装置的抛物面反射器反射的微波信号的波峰和波谷;
调整所述实验装置的反射板的位置,进行微波反射、微波干涉和微波衰减实验。
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