[发明专利]高温测试图像热流扰动校正装置及方法

权利要求书

1.一种高温测试图像热流扰动校正装置，其特征在于，包括：

加热组件，用于对试件加热；

发光组件，包括激光发射器、网格扩束镜及补偿光源，所述激光发射器的前端连接所述网格扩束镜，用于将激光网格照射到所述试件的表面；所述补偿光源用于照射所述试件的表面；

图像采集组件，用于采集所述试件在室温状态下的第一图像，以及采集所述试件在被加热状态下的第二图像；

处理组件，连接到所述图像采集组件，用于：

根据所述第一图像及所述第二图像，确定所述试件在被加热状态下的第一变形场；

根据所述第一图像及所述第二图像，确定所述试件表面的激光网格线上的各个像素点的第一位移信息；

根据所述第一位移信息，确定所述试件表面的激光网格线外的各个像素点的第二位移信息；

根据所述第一位移信息及所述第二位移信息，对所述第一变形场进行校正，得到校正后的第二变形场。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理组件根据所述第一图像及所述第二图像，确定所述试件表面的激光网格线上的各个像素点的第一位移信息，包括：

在所述第一图像及所述第二图像中，将处于激光网格线的同一行且横坐标相同的像素点，确定为同一个第一像素点，并将处于激光网格线的同一列且纵坐标相同的像素点，确定为同一个第二像素点；

根据所述第一像素点在所述第一图像及所述第二图像中的纵坐标位置，确定所述第一像素点的第一纵向位移，所述第一像素点的第一位移信息包括所述第一纵向位移；

根据所述第二像素点在所述第一图像及所述第二图像中的横坐标位置，确定所述第二像素点的第一横向位移，所述第二像素点的第一位移信息包括所述第一横向位移。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述处理组件根据所述第一位移信息，确定所述试件表面的激光网格线外的各个像素点的第二位移信息，包括：

针对激光网格线外的任一第三像素点，根据所述第三像素点所在的局部网格，确定出在所述局部网格的网格线的相邻两行上、与所述第三像素点横坐标相同的两个第一像素点，以及在所述局部网格的网格线的相邻两列上、与所述第三像素点纵坐标相同的两个第二像素点；

根据所述两个第一像素点的第一纵向位移，确定所述第三像素点的第二纵向位移；

根据所述两个第二像素点的第一横向位移，确定所述第三像素点的第二横向位移；

其中，所述第三像素点的第二位移信息包括所述第二纵向位移和所述第二横向位移。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，根据所述两个第一像素点的第一纵向位移，确定所述第三像素点的第二纵向位移，包括：

根据所述两个第一像素点的第一纵向位移，确定所述局部网格的网格线的相邻两行之间的局部纵向影响系数；

根据所述第三像素点与所述两个第一像素点之间的纵向距离以及所述局部纵向影响系数，确定所述第三像素点的第二纵向位移。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，根据所述两个第二像素点的第一横向位移，确定所述第三像素点的第二横向位移，包括：

根据所述两个第二像素点的第一横向位移，确定所述局部网格的网格线的相邻两列之间的局部横向影响系数；

根据所述第三像素点与所述两个第二像素点之间的横向距离以及所述局部横向影响系数，确定所述第三像素点的第二横向位移。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理组件根据所述第一图像及所述第二图像，确定所述试件表面的激光网格线上的各个像素点的第一位移信息，包括：

提取所述第二图像的绿光通道的图像信息；

将所述图像信息中的激光网格线划分成多条线段，每条线段内至少包括一个拐点；

根据线段的端点以及线段上的拐点，分别对各条线段进行曲线拟合，得到多条拟合线段；

根据所述多条拟合线段，确定拟合后的激光网格；

根据所述第一图像中的激光网格以及所述第二图像中拟合后的激光网格，确定所述试件表面的激光网格线上的各个像素点的第一位移信息。