[发明专利]基于以经优化读取电压为中心的信号和噪声特性确定位错误计数

权利要求书

1.一种存储器装置，其包括：

集成电路封装，其围封所述存储器装置；以及

至少一个存储器单元群组，其在至少一个集成电路裸片上形成；

其中所述存储器装置配置成：

将所述存储器单元群组编程成存储每存储器单元预定数目个位，所述存储器单元群组将在多个第一电压下读取以从所述存储器单元群组检索所述每存储器单元预定数目个位；

确定分别对应于所述多个第一电压的多个经校准读取电压，其中所述多个经校准读取电压中的每个相应经校准读取电压基于通过在第一测试电压下读取所述存储器单元群组测量的所述存储器单元群组的第一信号和噪声特性来校准；

根据所述第一信号和噪声特性计算所述存储器单元群组在所述相应经校准读取电压下的基于第二测试电压的第二信号和噪声特性；以及

基于所述第二信号和噪声特性，估计使用所述多个经校准读取电压可从所述存储器单元群组检索到的数据的位错误计数。

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其进一步配置成：

计算所述多个经校准读取电压的所述第二信号和噪声特性的总和；以及

使所述总和与比例因子相乘以产生所述位错误计数的估计值。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其进一步配置成：

根据预定公式从所述总和计算所述比例因子。

4.根据权利要求3所述的存储器装置，其中所述比例因子是所述总和的线性函数，所述线性函数具有预定系数。

5.根据权利要求4所述的存储器装置，其中所述第一测试电压按照一预定电压间隙相等地间隔开。

6.根据权利要求5所述的存储器装置，其中为了测量所述第一信号和噪声特性，所述存储器装置配置成：

在所述多个第一测试电压下读取所述存储器单元群组；

分别确定所述第一测试电压下的位计数，其中测试电压下的每一位计数标识所述群组中当在所述测试电压下读取时提供预定位值的存储器单元的数目；以及

计算所述第一测试电压中的邻近电压对的所述位计数的计数差，其中所述第一测试电压中的一对邻近电压之间的电压间隔的每一计数差是所述一对邻近电压的位计数之间的差。

7.根据权利要求6所述的存储器装置，其中所述第二测试电压包含：

比所述相应经校准读取电压高所述预定电压间隙的一半的较高电压，和

比所述相应经校准读取电压低所述预定电压间隙的一半的较低电压。

8.根据权利要求7所述的存储器装置，其中所述第二信号和噪声特性包含所述较高电压下的位计数和所述较低电压下的位计数之间的计数差。

9.根据权利要求8所述的存储器装置，其中确定所述第二信号和噪声特性，而无需在所述较高电压和所述较低电压下读取所述存储器单元群组。

10.根据权利要求9所述的存储器装置，其中所述第二测试电压中的至少两个不与所述第一测试电压中的任一个一致。

11.根据权利要求10所述的存储器装置，其中用于校准所述多个经校准读取电压的测试电压范围彼此不重叠。