[发明专利]一种温度计的非唯一性的评测方法

权利要求书

1.一种温度计的非唯一性的评测方法，包括：

提供精密恒温槽，在所述精密恒温槽的内部装有恒温介质；

提供多阱等温热管，所述多阱等温热管设置在所述恒温槽内；

提供恒温槽盖，在所述恒温槽盖和所述多阱等温热管上设置有多个对应的孔，在所述孔中放置有温度计阱，在每个温度计阱中插入标准铂电阻温度计进行测温；

将精密测温电桥的Rs端接入标准电阻，借助转换开关使精密测温电桥的Rt端分别接入温度计S₁，S₂，…，S_n，测量每支温度计在标准电阻为Rs下对应的阻值，分别为R₀₁，R₀₂，…,R_0n；

之后，将精密电桥Rs端接入温度计S₁，将Rt端分别接入其余温度计S₂，…，S_n，测量这些温度计在该Rs下对应的阻值；

然后将精密电桥Rs端接入温度计S₂，将Rt端分别接入其余温度计S₁，S₃，…，S_n，测量这些温度计在该Rs下对应的阻值；

依此类推，直至所有温度计都被作为Rs端完成其余温度计的阻值测量，完成一轮循环；

完成一轮至多轮循环后，计算每支温度计在作为被测温度计时测得的所有阻值平均值作为该温度计阻值，利用ITS-90温标将阻值换算成温度，比较各个温度计温度差可实现精密恒温槽对应温度下温度计的非唯一性测量。

2.如权利要求1所述的评测方法，其特征在于：所述恒温槽盖为玻璃盖。

3.如权利要求1所述的评测方法，其特征在于：所述温度计阱为玻璃管。

4.如权利要求1所述的评测方法，其特征在于：所述温度计阱上部为翻口开口状态，翻口直径大于恒温槽盖上的孔直径。

5.如权利要求1所述的评测方法，其特征在于：所述温度计阱的外径小于所述恒温槽盖上小孔的内径以及多阱等温热管上小孔的内径。