[发明专利]一种转向架构架检测用十字形卡尺校准方法

说明书

本发明公开了一种转向架构架检测用十字形卡尺校准方法，包括以下步骤：确定校准条件、检查主要用校准标准器是否符合要求、校准项目及校准方法、校准结果表达、复校时间间隔、校准完成后，及时填写构架检测专用十字形卡尺校准记录；本发明校准装置的结构设计科学合理、结构简单、使用便捷，利用校准装置及校准方法能开展转向架构架划线及检测专用的十字形卡尺的校准工作，规范了校准行为并能在行业内溯源和量值传递，满足转向架构架检测用十字形卡尺的校准要求，提高了机车转向架构架的划线、检修时的测量准确性和可靠性，保障了转向架构架的产品质量和性能。

技术领域

本发明属于机车转向架构架检修技术领域，具体涉及一种转向架构架检测用十字形卡尺校准方法。

背景技术

机车转向架是机车上的主要组成部分之一，它用来传递各种载荷，并利用轮轨间的粘着保证牵引力制动力的产生，实现运动的转换，减小动力冲击作用，顺利通过曲线，转向架的好坏直接影响机车的牵引能力、运行品质、轮轨磨耗、列车安全。构架是转向架的基础，把转向架的各个零部件组成一个整体，它不仅承受、传递各种载荷及作用力，而且其结构、形状和尺寸都应满足各零部件组装的要求。转向架构架检测用十字形卡尺是用于转向架构架划线及检测的特制专用量具，用于转向架构架划线，测量构架及其各安装座检修的要求尺寸，具有定期校准的计量属性。由于这种转向架构架检测用十字形卡尺是特制专用量具，没有专用的校准装置，行业内也没有现行的校准规范和校准方法，无法开展其相应的校准工作。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种转向架构架检测用十字形卡尺校准方法，利用专用的校准装置，采用规范的校准方法，开展转向架构架划线及检测专用的十字形卡尺校准工作，该校准装置和方法能在行业内溯源和量值传递，满足转向架构架检测用十字形卡尺的校准要求，提高了机车转向架构架的划线、检修时的测量准确性和可靠性，保障了转向架构架的产品质量。

本发明所采用的技术方案是：一种转向架构架检测用十字形卡尺校准方法如下：

步骤一、确定校准条件：十字形卡尺应在温度为20±5℃的室内校准，被检量具与主要校准工具在室内平板上平衡温度的时间不少于2h；

步骤二、检查主要用校准标准器是否符合要求；主要校准标准器有：2级塞尺、工具显微镜或读数显微镜、粗糙度比较样块、1级刀口尺、一级平板、一级直角尺、2级方箱和内径千分尺；

步骤三、校准项目及校准方法：

S1、检查外观：新制量具表面工作面和非工作面均不应有锐边、锈蚀、划痕及镀层脱落等缺陷，不应有锈迹、碰伤或其它明显影响外观和使用质量的缺陷；修理后和使用中的量具允许有不影响使用准确度的外观缺陷；量具上必须有量具名称、制造厂名、分度值、规格型号、出厂日期及出厂编号，刻线应清晰、完整；

S2、检查量具各部分相互作用：采用目视观察和手感试验，尺框沿尺身移动应平稳，不应有阻滞或松动现象，紧固螺钉的作用应可靠，尺身和尺框的配合应无明显晃动；

S3、游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离：用2级塞尺检查游标刻线面的棱边至主尺刻线面表面的距离，游标刻线面的棱边至主尺刻线面表面之间的间隙不大于0.25mm为合格；

S4、刻线宽度和宽度差：用工具显微镜或读数显微镜校准刻线宽度和宽度差，主尺和游标的刻线应至少各抽检三条，刻线宽度差以受检刻线中最大与最小宽度之差确定，刻线宽度为0.08-0.20mm，刻线宽度差不大于0.05mm；

S5、测量面表面粗糙度：用粗糙度比较样块校准各测量面表面粗糙度，测量面的表面粗糙度Ra应不大于0.8um；

S6、测量面的平面度：用1级刀口尺以光隙法校准测量面的平面度，测量面的平面度应不大于0.005mm；