[发明专利]伪造样本检测模型的训练方法、伪造样本识别方法、装置、介质和设备

权利要求书

1.一种伪造样本检测模型的训练方法，包括：

获取真实样本集和伪造样本集，所述伪造样本集中包括多种已知伪造类型的伪造样本；

重复执行步骤S120-S150，直到达到预设条件：

步骤S120，根据所述真实样本集，确定训练真实样本集和测试真实样本集；

步骤S130，根据所述伪造样本集，确定元训练伪造样本集和元测试伪造样本集，所述元训练伪造样本集中任一伪造样本的伪造类型与所述元测试伪造样本集中任一伪造样本的伪造类型不同；

步骤S140，采用所述训练真实样本集、元训练伪造样本集对所述伪造样本检测模型进行元训练，得到内层优化后的伪造样本检测模型；

步骤S150，采用所述训练真实样本集、元测试伪造样本集对内层优化后的伪造样本检测模型进行元测试，得到外层优化后的伪造样本检测模型；

其中，根据所述伪造样本集，确定元训练伪造样本集和元测试伪造样本包括：按照第一预设方式从所述伪造样本集中采样多个伪造样本作为元测试伪造样本集，并将所述伪造样本集中剩余的多个伪造样本作为元训练伪造样本集；

所述按照第一预设方式从所述伪造样本集中采样多个伪造样本作为元测试伪造样本集，并将所述伪造样本集中剩余的多个伪造样本作为元训练伪造样本集，具体包括：

计算各个伪造类型的伪造样本与真实样本的特征在再生核希尔伯特空间的范数距离或计算各个伪造类型的伪造样本与真实样本的特征的数学期望的范数距离；

确定距离大于预设阈值的一个或多个伪造类型的多个伪造样本为元测试伪造样本集；或者

按照距离大小，确定排序在前的预设数量或预设比例的一个或多个伪造类型的多个伪造样本为元测试伪造样本集。

2.如权利要求1所述的伪造样本检测模型的训练方法，其中，构建符合第一预设方式的采样策略，根据所述采样策略从所述伪造样本集中采样形成所述元测试伪造样本集，以所述采样策略计算的元测试伪造样本集中各个伪造类型的伪造样本的采样概率之和为1。

3.如权利要求1所述的伪造样本检测模型的训练方法，其中，根据所述伪造样本集，确定元训练伪造样本集和元测试伪造样本集，包括：

按照第二预设方式从所述伪造样本集确定伪造样本子集，所述伪造样本子集中的伪造样本数量与所述训练真实样本集中的真实样本数量一致；

按照第一预设方式将所述伪造样本子集划分为元训练伪造样本集和元测试伪造样本集。

4.如权利要求1所述的伪造样本检测模型的训练方法，其中，所述元训练伪造样本集和元测试伪造样本集均包括多种伪造类型的多个伪造样本。

5.如权利要求1所述的伪造样本检测模型的训练方法，其中，预设可微分的内层优化目标，以便在进行元测试时，使用梯度方法进行外层优化。

6.一种伪造样本识别方法，包括：

获取待识别样本；

采用如权利要求1-5中任一项所述伪造样本检测模型的训练方法得到的伪造样本检测模型，对所述待识别样本进行检测；

获取所述伪造样本检测模型对所述待识别样本的检测结果。