[发明专利]通过多次使用测试元件确定装配机的精度在审

专利信息
申请号: 202110508432.3 申请日: 2021-05-11
公开(公告)号: CN113670193A 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 马丁·普吕菲尔 申请(专利权)人: 先进装配系统有限责任两合公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 代理人: 艾晶
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 通过 多次 使用 测试 元件 确定 装配 精度
【权利要求书】:

1.一种用于确定装配机(100)的装配精度的方法,所述方法包括:

将参考板(280)引入到所述装配机(100)的装配区域中,其中,所述参考板(280)具有多个参考标记(282);

由装配头(130)拾取测试元件(290);

使用所述装配头(130)将所拾取的测试元件(290)放置在所述参考板(280)上的测试装配位置处;

借助相机(150)和所述相机(150)下游连接的评估单元(160),通过考虑至少一个参考标记(282)的位置来测定所放置的测试元件(290)的实际位置;

由所述装配头(130)重新拾取所放置的测试元件(290);

使用所述装配头(130)将所重新拾取的测试元件(290)重新放置在所述参考板(280)上的另外测试装配位置处;

借助所述相机(150)和所述评估单元(160),通过考虑至少一个另外参考标记(282)的位置来重新测定所重新放置的测试元件(290)的另外实际位置;以及

确定所述装配机(100)的装配精度是基于以下两者之间的偏差:

(i)所测定的实际位置,与

(ii)所述测试装配位置的目标位置;以及

以下两者之间的另外偏差:

(i)所重新测定的另外实际位置,与

(ii)所述另外测试装配位置的另外目标位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,

所述另外测试装配位置与所述测试装配位置不同。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,

所述测试装配位置与所述另外测试装配位置沿着第一方向(290a)彼此之间具有第一距离,所述第一距离小于所述测试元件(290)沿着该第一方向(290a)的第一几何尺寸。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,

所述测试装配位置与至少另一个另外测试装配位置沿着第二方向(290b)彼此之间具有第二距离,所述第二距离小于所述测试元件(290)沿着该第二方向(290b)的第二几何尺寸,其中,所述第二方向(290b)与所述第一方向(290a)互成角度,尤其是垂直;且其中,

对于所述至少另一个另外测试装配位置,同样借助所述相机(150)和所述评估单元(160),通过考虑至少另一个另外参考标记(282)的位置来测定另一个另外实际位置,其中,

确定所述装配机(100)的装配精度进一步基于:

以下两者之间的另一个另外偏差:

(i)所测定的另一个另外实际位置,与

(ii)所述另一个另外测试装配位置的另一个另外目标位置。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,

所述另外测试装配位置与所述测试装配位置相同。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,

所述多个参考标记(282)平坦地分布在所述参考板(280)上,尤其是以一维或二维网格的形式。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,

测定所述实际位置和/或重新测定所述另外实际位置包括:

借助所述相机(150)的图像采集,对所述测试元件(290)和相关的至少一个参考标记(282)进行联合光学检测。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,

由所述装配机(100)的元件进给装置(120)拾取所述测试元件(290)。

9.根据权利要求8所述的方法,进一步包括:

在由所述装配头(130)重新拾取所放置的测试元件(290)之后,

在重新放置所重新拾取的测试元件(290)之前,

将所述测试元件(290)从所述测试装配位置传送到所述元件进给装置(120),以及

将所述测试元件(290)从所述元件进给装置(120)传送到所述另外测试装配位置。

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