[发明专利]自动测试系统和自动测试方法

说明书

本申请公开了一种自动测试系统和自动测试方法，该自动测试系统包括：采集板、处理芯片、电源模块和目标芯片，通过采集板采集待测试控制信号，并对待测试控制信号进行预处理，以得到中间信号，通过处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并进行测试处理，其中，目标芯片是目标测试对象对应的芯片，通过电源模块，为采集板、处理芯片和目标芯片进行供电，使得目标芯片在接收到电源后，通过标准接口输出对应的待测试控制信号。本申请实施例通过简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种自动测试系统和自动测试方法。

背景技术

目前电视产品大部分采用P2P(pointtopoint)接口或VBO(V-By-One)接口来进行控制信号的传输。在对P2P接口或VBO接口传输的控制信号进行生产适应性测试(也可称为DFM测试)时，需要花费大量时间测试P2P接口或VBO接口的控制信号的电压(包括电压频率、占空比等)，以及时序等。现有的进行生产适应性测试时是由测试人员来人工完成的，测试人员在测试的过程中很容易受个人情绪、疲劳度等因素影响，对测试结果的影响较大，对产品的一致性会产生不利，测试的效率也非常低。

发明内容

本申请实施例提供一种自动测试系统和自动测试方法，能对待测试控制信号进行自动化测试，提高待测试控制信号的测试效率。

本申请实施例提供了一种自动测试系统，包括：

采集板，与目标芯片连接，用于采集通过所述目标芯片的标准接口输出的待测试控制信号，以及对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号；

处理芯片，与所述采集板连接，用于获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，从所述中间信号中提取与所述目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对所述目标控制信号进行测试处理，其中，所述目标芯片是所述目标测试对象对应的芯片；

电源模块，与所述采集板、所述处理芯片连接，用于为所述采集板、所述处理芯片进行供电，且通过所述采集板为所述目标芯片供电；

所述目标芯片，用于在供电后，通过所述标准接口输出对应的待测试控制信号。

本申请实施例还提供了一种自动测试方法，包括：

通过标准接口输出目标芯片的待测试控制信号；

采集所述待测试控制信号，并对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号；

获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，其中，所述目标芯片是所述目标测试对象对应的芯片；

从所述中间信号中提取与所述目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对所述目标控制信号进行测试处理。

本申请提供的自动测试系统和自动测试方法，通过采集板采集待测试控制信号，并对待测试控制信号进行预处理，以得到中间信号；通过处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对目标控制信号进行测试处理，其中，目标芯片是目标测试对象对应的芯片；通过电源模块，为采集板、处理芯片和目标芯片进行供电，使得目标芯片在接收到电源后，通过标准接口输出对应的待测试控制信号。本申请实施例通过采集板、处理芯片、电源模块、目标芯片等简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的自动测试系统的示意图。