[发明专利]参数优化方法、量子芯片的控制方法及装置

权利要求书

1.一种参数优化方法，其特征在于，包括：

获取与量子芯片相对应的量子门精度；

对所述量子门精度进行逆向微分运算，获得芯片参数的梯度和控制参数的梯度，其中，所述芯片参数和控制参数用于控制所述量子芯片进行运算；

基于所述芯片参数的梯度、所述控制参数的梯度分别对所述芯片参数和所述控制参数进行优化，获得优化后芯片参数和优化后控制参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取与量子芯片相对应的量子门精度，包括：

获取所述量子芯片所生成的实际量子门、以及与所述实际量子门相对应的理论量子门；

确定所述实际量子门与所述理论量子门之间的匹配程度；

基于所述匹配程度，确定所述量子门的精度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述量子芯片所生成的实际量子门，包括：

获取芯片参数和控制参数；

基于所述芯片参数和控制参数控制所述量子芯片进行运算，获得所述实际量子门。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述芯片参数和控制参数控制所述量子芯片进行运算，获得所述实际量子门，包括：

基于所述芯片参数和所述控制参数，生成哈密顿量；

基于所述哈密顿量和所述控制参数控制所述量子芯片进行运算，获得所述实际量子门。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述芯片参数包括以下至少之一：与所述量子芯片相对应的电容量、与所述量子芯片相对应的电感量、与所述量子芯片相对应的用于表征约瑟夫森结储存能量的参数。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制参数包括：用于控制所述量子芯片进行运算的波形。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制参数的梯度与所述哈密顿量相关。

8.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法，其特征在于，在获取用于标识量子芯片性能的量子门精度之后，所述方法还包括：

对所述量子门精度进行多次逆向微分运算，获得芯片参数的高阶导数和控制参数的高阶导数；

基于所述芯片参数的高阶导数和控制参数的高阶导数，对量子门的性能鲁棒性进行评估。

9.一种量子芯片的控制方法，其特征在于，包括：

获取用于控制量子芯片进行运算的芯片参数和控制参数；

基于所述芯片参数和所述控制参数，生成哈密顿量；

基于所述哈密顿量和所述控制参数控制所述量子芯片进行运算。

10.一种参数优化方法，其特征在于，包括：

响应于调用参数优化请求，确定参数优化服务对应的处理资源；

利用所述处理资源执行如下步骤：获取与量子芯片相对应的量子门精度；对所述量子门精度进行逆向微分运算，获得芯片参数的梯度和控制参数的梯度，其中，所述芯片参数和控制参数用于控制所述量子芯片进行运算；基于所述芯片参数的梯度、所述控制参数的梯度分别对所述芯片参数和所述控制参数进行优化，获得优化后芯片参数和优化后控制参数。

11.一种量子芯片的控制方法，其特征在于，包括：

响应于调用量子芯片的控制请求，确定量子芯片的控制服务对应的处理资源；

利用所述处理资源执行如下步骤：获取用于控制量子芯片进行运算的芯片参数和控制参数；基于所述芯片参数和所述控制参数，生成哈密顿量；基于所述哈密顿量和所述控制参数控制所述量子芯片进行运算。

12.一种参数优化装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取与量子芯片相对应的量子门精度；

第一运算模块，用于对所述量子门精度进行逆向微分运算，获得芯片参数的梯度和控制参数的梯度，其中，所述芯片参数和控制参数用于控制所述量子芯片进行运算；

第一优化模块，用于基于所述芯片参数的梯度、所述控制参数的梯度分别对所述芯片参数和所述控制参数进行优化，获得优化后芯片参数和优化后控制参数。