[发明专利]适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法

说明书

本发明公开了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，属于微波测试技术领域。采用本发明提供的方法，在进行微波集成电路电性能快速筛选检测时，只需要预先设置一次性将相关测控状态加载下发给各相关电路单元，根据检测需求提前设定检测结果的判断阈值并装载好同批次待测试的微波集成电路，就可以一次性同时而非分时地自动完成不少于10个微波集成电路的电性能快速筛选检测，有效解决电性能预先筛选环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。本发明提供的方法简便、经济，测试及资源应用效能较高，且可根据应用需求规模进行应用扩展，通用性较强。

技术领域

本发明属于微波测试技术领域，具体涉及一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法。

背景技术

随着微波集成电路及其技术的快速发展，微波集成电路的生产制造及应用的数量和规模不断增长。因此，在其生产制造过程中的测试工作量也越来越大，给电性能最终检测的效率及占用仪器资源等带来巨大挑战。应用传统方法，微波集成电路的生产制造与电性能最终检测之间不仅缺少预先筛选环节，而且主要采取微波集成电路、测试仪器资源以及测控模式以“1:1:1”的配比方式进行配置。如果待测试微波集成电路中存在不合格产品，则每个不合格产品与合格产品的测试过程以及占用时间、仪器资源等完全一样，但却是不创造价值的无效工作。因此，为有效降低电性能最终检测环节的无效工作率并提高时间、仪器等资源的使用效能，同时通过批次性的快速筛选检测评估为生产制造的工艺管控质量和状态提供改进参考，协同支撑微波集成电路生产制造综合能力的持续提升，需要创新提出或形成与实际应用需求相适应的快速检测方法与技术。

基于传统方法，微波集成电路在电性能最终检测前没有设置对可能存在的不合格产品进行预先筛选的环节，合格与否的判定仅取决于电性能最终检测的结果，而电性能最终检测就是依据规格参数的全性能测试要求，针对单个或多个被测微波集成电路按照“1:1:1”或“N:1:1”的配比方式进行相应测试仪器资源和测控模式的配置与集成开发，以同时或分时方式实现所需的性能测试目标。有鉴于此，本应仅提供合格产品性能测试结果的电性能最终检测环节不仅无法控制其无效工作率，而且对时间、仪器等资源占用和消耗很大且使用效能相对较低，难以有效满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。

根据微波集成电路生产制造的实际应用需求分析，采用传统方法，在电性能最终检测前对可能存在的不合格产品进行预先筛选存在着明显缺位和不足。基于传统方法，待测试微波集成电路的合格判定仅取决于电性能最终检测的结果，需要依据规格参数的全性能测试要求，针对同批次单个或多个待测器件的测试需求按照“1:1:1”的配比方式进行相应测试仪器资源和测控模式的配置与集成开发，以同时测试方式实现所需性能测试目标；或者按照“N:1:1”的配比方式进行相应测试仪器资源和测控模式的配置与集成开发，以分时测试方式实现所需的性能测试目标。基于该方法只能在缩短测试时间和减少仪器资源之间进行“二选一”的选择而无法实现兼顾优化。因此，基于传统方法，不仅无法控制电性能最终检测的无效工作率，而且对时间、仪器等资源占用和消耗很大且使用效能相对较低，难以有效满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。

随着微波集成电路及其技术的快速发展，微波集成电路的生产制造及应用的数量和规模不断增长。因此，在其生产制造过程中的测试工作量也越来越大，给电性能最终检测的效率及占用仪器资源等带来巨大挑战。为有效降低电性能最终检测环节的无效工作率并提高时间、仪器等资源的使用效能，同时通过批次性的快速筛选检测评估为生产制造的工艺管控质量和状态提供改进参考，协同支撑微波集成电路生产制造综合能力的持续提升，需要一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测方法及电路，可以在微波集成电路进行电性能最终检测前预先快速筛选出不合格产品，以最大限度地满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。

发明内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本发明提出了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，设计合理，克服了现有技术的不足，具有良好的效果。