[发明专利]一种针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置及方法

权利要求书

1.一种针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，包括环形测试体、线圈和LCR表，所述环形测试体为环形回转体结构，其母线为圆形，包括同轴设置的软磁薄膜、薄膜固定架和外接卡环；所述软磁薄膜内嵌于所述薄膜固定架和外接卡环之间；所述线圈均匀缠绕在所述环形测试体的外表面，且所述线圈的接线端连接到所述LCR表。

2.根据权利要求1所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述薄膜固定架至少包括与所述环形测试体同轴设置的圆柱形外侧面，所述软磁薄膜环贴于所述圆柱形外侧面，所述外接卡环卡接并固定在所述软磁薄膜的外侧。

3.根据权利要求2所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述薄膜固定架和所述外接卡环均为回转中心轴与所述环形测试体回转中心轴相重合的环形回转体结构，所述薄膜固定架的母线为带有矩形开口的圆，且所述矩形开口朝外设置，所述矩形开口的内边线即为所述圆柱形外侧面的母线，所述矩形开口在所述环形测试体回转中心轴方向的高度小于所述环形测试体母线的直径，对应的所述外接卡环设有矩形凸起，当所述矩形凸起完全卡接入所述薄膜固定架的矩形开口后，形成母线为圆形的回转体式环形测试体。

4.根据权利要求3所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述外接卡环沿其回转面均分为至少两个可相互卡扣的卡接臂，形成所述圆柱形外侧面的母线过所述环形测试体母线的圆心，且形成所述圆柱形外侧面的母线平行于所述环形测试体的回转中心线。

5.根据权利要求2-4之一所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述软磁薄膜利用无磁双面胶刚好贴满所述圆柱形外侧面，使得线圈对所述软磁薄膜进行磁化后形成闭合磁路。

6.根据权利要求1-4之一所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述薄膜固定架和外接卡环为无磁性材料，所述无磁性材料包括ABS材料和/或尼龙材料。

7.根据权利要求2所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述软磁薄膜的厚度为0.1mm-0.5mm，所述线圈的匝数根据测试信号的灵敏度范围和所述圆柱形外侧面的直径确定。

8.根据权利要求7所述针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试装置，其特征在于，所述线圈匝数为30匝-100匝。

9.一种针对软磁薄膜的低频复数磁导率测试方法，其特征在于，使用权利要求1-8之一所述软磁薄膜低频复数磁导率测试装置进行软磁薄膜的低频复数磁导率测试，将不同规格的软磁薄膜分别弯曲成不同的圆柱形，将每一个所述软磁薄膜分别同轴环贴于相同规格的所述薄膜固定架和所述外接卡环之间，形成母线为圆形的所述环形测试体，然后根据测试信号的灵敏度范围和所述圆柱形软磁薄膜的直径，在所述环形测试体的外表面均匀环绕30匝-100匝的线圈，将缠绕有所述线圈的环形测试体连接到所述LCR表，测出低频信号下被测桥臂上的等效电阻和等效电感，从而得出软磁薄膜的复数磁导率的实部和虚部。