[发明专利]黑腔内壁低密度金转化层的制备方法有效
申请号: | 202110517767.1 | 申请日: | 2021-05-12 |
公开(公告)号: | CN113215532B | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 刘艳松;何智兵;黄景林;易泰民;王涛;陈果;何小珊;谢春平;李俊 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | C23C14/16 | 分类号: | C23C14/16;C23C14/34;C25D3/48;C23C28/02;C23C14/58;C25D5/50 |
代理公司: | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人: | 罗明理 |
地址: | 621900 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内壁 密度 转化 制备 方法 | ||
1.一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是,包括以下步骤:
A、采用Au靶与活泼金属靶的双靶共溅方式在芯轴表面制备合金结构的内衬层,所述内衬层厚度为1~50μm,内衬层中Au含量为5~50at.%,其余为活泼金属,所述活泼金属包括Al、Cu或Ag中的一种;
B、采用溅射或电镀方式在步骤A制得的内衬层结构的表面制备纯金的支撑层,所述支撑层的厚度为10~50μm;
C、对步骤B制备的样品进行退火处理;
D、将步骤C获得的样品在电解质溶液中进行去芯轴和去合金化处理,清洗、烘干后得到内衬层为低密度金转化层的黑腔。
2.如权利要求1所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:在步骤A中进行溅射之前,首先使溅射真空室的真空度达到1×10-7Pa~1×10-5Pa,然后充入高纯氩气,并使溅射真空室的真空度维持在0.1Pa~0.6Pa。
3.如权利要求2所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:在步骤A中进行双靶共溅时,将1~12个芯轴放置于自转公转样品架,样品架公转中心到溅射靶中心的距离为80~150mm,样品架公转中心法线与溅射靶中心轴线呈30~45°夹角。
4.如权利要求1所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:所述芯轴材料为Cu、Al、Ag或以上材料构成的合金,形状为圆柱型、多节圆柱型、球柱型、椭球柱形或任意两种及以上形状的组合。
5.如权利要求1所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:在步骤C中进行退火处理时,背底真空优于1×10-5Pa,在300℃~450℃下热处理24~144H,随后冷却至室温取出。
6.如权利要求1所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:步骤D中的电解质溶液为硝酸溶液或其他腐蚀性溶液。
7.如权利要求1-6任意一项权利要求所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:所述内衬层的合金结构采用Au层与活泼金属层交替设置的多层结构取代。
8.如权利要求7所述的一种黑腔内壁低密度金转化层的制备方法,其特征是:所述多层结构为10~20层,其中,活泼金属层的厚度不变,Au层厚度从内到外均匀递增。
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