[发明专利]劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法有效
申请号: | 202110520233.4 | 申请日: | 2021-05-12 |
公开(公告)号: | CN113325015B | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 陈凯;寇嘉伟 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01N23/2055 | 分类号: | G01N23/2055 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 覃婧婵 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 衍射 图谱 识别 同一 劈裂 方法 | ||
公开了一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法,方法包括以下步骤:在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算衍射亚峰的积分强度,将衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;将在未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;对序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据各衍射亚峰Pi的积分强度,计算各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离为εi,在所有不属于序列L的未归类衍射亚峰中,寻找与序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其加入序列L;将序列L的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰。
技术领域
本发明属于X射线衍射图谱分析领域,特别是一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法。
背景技术
作为一种高效的材料表征手段,X射线劳厄衍射被广泛用于多种材料的表征。基于劳厄衍射图谱,能够通过分析计算得到材料的取向、组成相和应变等各种信息。由于劳厄衍射原理简单,在进行衍射实验时无需转动样品、X射线光源或探测器的空间位置,从而能够实现劳厄图谱的快速采集,相比其他相似的表征手段,在速度上具有极大的优势。而在对劳厄衍射图谱进行标定后,通过对衍射峰位置的回归拟合,可以求解包括三维晶体取向,二阶应力应变张量等信息。使用诸如传统的X射线衍射技术、电子衍射技术等方法,都无法实现同时对这些材料信息的高精度表征。进而在材料表征领域,劳厄衍射有其不可替代的优势。
由于劳厄衍射的高角分辨率,有较大变形的实验材料所获得的衍射峰往往会劈裂成多个衍射亚峰。公知的在劳厄衍射图谱上寻峰的方法此时寻到的实际上就是衍射峰劈裂得到的多个衍射亚峰。在后续的对衍射亚峰的标定中,由于衍射亚峰实际上是一个衍射峰劈裂而来,且数量众多,会极大地干扰标定过程,标定过程往往会延长至少一倍以上,且常常会出现无法标定和标定错误的情况。对于一般的个人电脑,以现有的算法和商用化的软件,标定一张劈裂严重的石英的劳厄衍射图谱往往耗时会长达数分钟。而对于同样实验条件下,在没有变形的石英晶体上获得的劳厄衍射图谱,其标定时间往往仅有数秒。因此,如果可以自动化地识别同一个衍射峰所劈裂的衍射亚峰,并将其作为一个整体进行标定,可以大幅提高现有标定方法对于存在劈裂的衍射图谱的适用性。考虑到在实际实验中,多数材料都是存在变形的,识别同一衍射峰所劈裂的衍射亚峰对于提高衍射图谱标定分析效率十分重要。
在背景技术部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解,因此可能包含不构成在本国中本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提出一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法,提前处理存在劈裂的劳厄衍射图谱,将劈裂自同一衍射峰的衍射亚峰视为一个衍射峰进行标定,可以极大地降低劳厄衍射图谱分析的计算量,以大幅提高分析效率。
本发明的目的是通过以下技术方案予以实现:
一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法包括以下步骤:
第一步骤中,在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算所述衍射亚峰的积分强度,将所述衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;
第二步骤中,输入角度常量ε0。定义空序列L,将所述序列L中衍射亚峰记为Pi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
第三步骤中,将在所述未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;
第四步骤中,对所述序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据所述各衍射亚峰Pi的积分强度,计算所述各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离εi,其中i=1,2,3…n,n为所述序列L中衍射亚峰的数量;
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