[发明专利]卷褶视野磁共振图像的重建方法、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 202110522711.5 | 申请日: | 2021-05-13 |
公开(公告)号: | CN113298901B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 梁栋;贾森;丘志浪;张磊;王海峰;刘新;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰;但念念 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 视野 磁共振 图像 重建 方法 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种卷褶视野磁共振图像的重建方法,其特征在于,所述重建方法包括:
获取目标对象在第一脉冲序列激发下的卷褶视野欠采样数据;
获取目标对象在第二脉冲序列激发下的全视野自校准采样数据;
基于所述全视野自校准采样数据计算全视野线圈敏感度图;
根据所述卷褶视野欠采样数据、全视野线圈敏感度图进行图像重建,获得全视野磁共振图像;
所述根据所述卷褶视野欠采样数据、全视野线圈敏感度图进行图像重建,获得磁共振图像,包括:
将所述全视野线圈敏感度图分解成第一卷褶视野线圈敏感度图、第二卷褶视野线圈敏感度图;
根据所述卷褶视野欠采样数据、第一卷褶视野线圈敏感度图、第二卷褶视野线圈敏感度图建立优化模型;
求解所述优化模型的最小值,获得两个卷褶视野磁共振图像;
将所述两个卷褶视野磁共振图像进行拼接获得全视野磁共振图像;
其中,所述优化模型被表示为下面的式子,
其中,M表示卷褶视野K空间的欠采样模板,Fxy表示沿着频率编码方向和相位编码方向的二维傅里叶变换,Nc表示线圈通道数量,Ci1表示第一卷褶视野线圈敏感度图的第i通道的线圈敏感度图,Ci2表示第二卷褶视野线圈敏感度图的第i通道的线圈敏感度图,yi表示卷褶视野欠采样数据的第i通道的欠采样数据,λ表示稀疏约束权重,W表示小波变换,xj表示待求解的两个卷褶视野磁共振图像。
2.根据权利要求1所述的重建方法,其特征在于,若所述卷褶视野欠采样数据为采用笛卡尔采样轨迹模式获得的欠采样数据,所述第一脉冲序列和所述第二脉冲序列相同。
3.根据权利要求1所述的重建方法,其特征在于,若所述卷褶视野欠采样数据为采用波浪可控混叠编码采样轨迹模式获得的欠采样数据,所述第一脉冲序列是由所述第二脉冲序列增加正弦梯度场获得,在根据所述卷褶视野欠采样数据、全视野线圈敏感度图进行图像重建,获得全视野磁共振图像之前,所述重建方法还包括:
根据目标对象的全视野二维全采样数据获得全视野点扩散函数;
相应的,根据所述卷褶视野欠采样数据、全视野线圈敏感度图进行图像重建,获得全视野磁共振图像具体为:
根据所述卷褶视野欠采样数据、全视野线圈敏感度图、全视野点扩散函数进行图像重建,获得全视野磁共振图像。
4.根据权利要求3所述的重建方法,其特征在于,所述根据目标对象的全视野二维全采样数据获得全视野点扩散函数,包括:
获取目标对象在第三脉冲序列激发下的第一全视野二维全采样数据;
获取目标对象在第四脉冲序列激发下的第二全视野二维全采样数据,所述第四脉冲序列是由所述第三脉冲序列增加正弦梯度场获得;
将所述第二全视野二维全采样数据除以所述第一全视野二维全采样数据得到全视野点扩散函数。
5.根据权利要求4所述的重建方法,其特征在于,所述将所述第二全视野二维全采样数据除以所述第一全视野二维全采样数据得到全视野点扩散函数,包括:
将所述第二全视野二维全采样数据除以所述第一全视野二维全采样数据得到初始点扩散函数;
将所述初始点扩散函数在K空间沿着频率编码方向进行线性拟合获得全视野点扩散函数。
6.根据权利要求3所述的重建方法,其特征在于,所述根据所述卷褶视野欠采样数据、全视野线圈敏感度图、全视野点扩散函数进行图像重建,获得全视野磁共振图像,包括:
将所述全视野线圈敏感度图分解成第一卷褶视野线圈敏感度图、第二卷褶视野线圈敏感度图;
将所述全视野点扩散函数分解成第一卷褶视野点扩散函数、第二卷褶视野点扩散函数;
根据所述卷褶视野欠采样数据、第一卷褶视野线圈敏感度图、第二卷褶视野线圈敏感度图、第一卷褶视野点扩散函数、第二卷褶视野点扩散函数建立优化模型;
求解所述优化模型的最小值,获得两个卷褶视野磁共振图像;
将所述两个卷褶视野磁共振图像进行拼接获得全视野磁共振图像。
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