[发明专利]存储器系统和存储器系统的操作方法

权利要求书

1.一种存储器系统，该存储器系统包括：

存储器装置，所述存储器装置包括多个半导体存储器；以及

控制器，所述控制器基于所述多个半导体存储器中的每一个的移动离子量来设置所述多个半导体存储器中的每一个的垃圾收集操作的执行周期，并且基于所设置的执行周期来控制所述多个半导体存储器的所述垃圾收集操作。

2.根据权利要求1所述的存储器系统，

其中，所述控制器包括垃圾收集控制器，所述垃圾收集控制器用于控制所述多个半导体存储器的所述垃圾收集操作，并且

其中，所述垃圾收集控制器包括：

移动离子量储存器，所述移动离子量储存器存储关于所述多个半导体存储器中的每一个的所述移动离子量的数据；以及

周期设置单元，所述周期设置单元基于存储在所述移动离子量储存器中的关于所述移动离子量的数据来设置所述多个半导体存储器中的每一个的所述执行周期。

3.根据权利要求2所述的存储器系统，

其中，所述多个半导体存储器中的每一个包括多个存储块，并且

其中，所述多个存储块当中的至少一个存储块被分配为内容可寻址存储器CAM块，所述CAM块用于存储关于对应的半导体存储器的所述移动离子量的数据。

4.根据权利要求3所述的存储器系统，其中，所述多个半导体存储器中的每一个在引导操作中读取存储在所述CAM块中的关于所述移动离子量的数据并且将读取的数据发送到所述控制器。

5.根据权利要求4所述的存储器系统，其中，所述移动离子量储存器存储在所述引导操作中从所述多个半导体存储器接收的关于所述移动离子量的数据。

6.根据权利要求2所述的存储器系统，其中，所述垃圾收集控制器检查自从执行所述多个半导体存储器中的每一个的最后的垃圾收集操作以来的时间。

7.根据权利要求6所述的存储器系统，其中，所述垃圾收集控制器控制所述存储器装置以对所述多个半导体存储器当中的所检查的时间达到所述执行周期的半导体存储器执行所述垃圾收集操作。

8.根据权利要求1所述的存储器系统，其中，所述多个半导体存储器中的每一个：

在所述垃圾收集操作中选择多个存储块当中的至少一个牺牲块，读取存储在所述牺牲块中的有效数据，并将读取的有效数据输出到所述控制器；并且

从所述控制器接收要编程的数据，并将所接收的数据存储在所述多个存储块当中的目标块中。

9.根据权利要求8所述的存储器系统，

其中，所述控制器包括纠错器，并且

其中，所述纠错器对从所述存储器装置接收的所述有效数据执行纠错操作并且生成经纠错的有效数据作为所述要编程的数据。

10.一种用于操作存储器系统的方法，所述存储器系统包括包含多个半导体存储器的存储器装置并且包括用于控制所述存储器装置的控制器，该方法包括以下步骤：

对所述多个半导体存储器中的每一个执行编程操作；

在所述编程操作完成之后对所述多个半导体存储器中的每一个执行读取操作；

基于所述读取操作的结果来对失败位进行检测和计数；

基于所计数的失败位的数量来测量所述多个半导体存储器中的每一个的移动离子量；以及

在所述多个半导体存储器中的每一个的内容可寻址存储器CAM块或所述控制器中存储关于所述多个半导体存储器中的每一个的所述移动离子量的信息。

11.根据权利要求10所述的方法，该方法还包括以下步骤：在执行所述读取操作之前和执行所述编程操作之后，执行待机操作达设置时间。

12.根据权利要求10所述的方法，该方法还包括以下步骤：在执行所述读取操作之前和执行所述编程操作之后将设置温度施加到所述存储器装置达设置时间。