[发明专利]热区标签和热区离群值检测

说明书

用于通过检测存储器装置中的热区标签和热区离群值来改善频繁改变的装置温度条件下的读取性能的方法、装置和系统。可以为所述存储器装置配置多个热区。可以测量对应于打开所述存储器装置的存储块用于编程的第一温度。随后可以测量对应于关闭所述存储块用于编程的第二温度。可以确定所述第一温度与所述第二温度之间的范围。所述范围可以横跨N≥2的所述热区。最终，在N满足阈值的条件下，可以将所述存储块指派到包含所述第二温度的热区。

背景技术

在电子存储器存储装置的操作期间，期望减少用于管理频繁温度改变的资源开销。举例来说，期望减少每当系统经历交叉温度事件时的数据再生操作。“交叉温度事件”指代由打开块与关闭块或者关闭第一块与关闭第二块之间的温度差异确定的事件。交叉温度事件在某些操作条件下可能变得特别成问题，例如：

1.高幅度和高或低频率的温度改变。

2.较小(相对于总体存储器容量)数目的存储频繁读取的数据的经编程存储器块上的温度改变。

3.跨越频繁电力循环或者软件或硬件装置复位的温度改变。

现有方法根据经编程块或页中的数据的写入(编程)温度来标记那些块或页用于刷新。维持用于写入和读取操作的温度范围表，且当写入温度高于或低于预定阈值时刷新数据以便减少位错误率(BER，bit error rate)。每当检测到交叉温度事件时过早地关闭经编程块(在变成装满经编程数据之前)。在存在高频温度变化的情况下，这可导致存储系统的管理资源饱和，从而造成读取/写入时延的总体增加。

发明内容

本公开涉及用于通过检测热区标签和热区离群值而改善频繁改变的装置温度条件下的读取性能的方法。可以为存储器装置配置热区。可以测量对应于打开存储器装置的存储块用于编程的第一温度，且可以随后测量对应于关闭存储块用于编程的第二温度。第一温度与第二温度之间的范围可以横跨N≥2的热区确定。在N满足阈值的条件下，存储块可以被指派到包含第二温度的热区。

本公开还涉及用于通过检测热区标签和热区离群值而改善频繁改变的装置温度条件下的读取性能的装置。所述装置可包含非易失性存储器阵列、控制器和被配置成实施所公开的解决方案的逻辑。所述逻辑可以测量对应于打开非易失性存储装置阵列的存储块用于编程的第一温度，其中所述第一温度位于多个经预配置热区中的第一个内。“经预配置热区”指代在对块进行编程之前在存储器装置中做出且与装置温度范围相关联的设定。可以根据存储器和/或存储器装置的特定类型定制这些区的数目和范围。

逻辑还可以测量对应于关闭存储块用于编程的第二温度，其中第二温度位于经预配置热区中的第一个的N跃点邻域中的所述多个经预配置热区中的第二个内，其中N≥1。“N跃点邻域”指代在特定热区的一侧或两侧上被配置的若干邻近热区。举例来说，用于区R的N跃点邻域可以仅包含邻近于R的较低温度的N个热区，或可以包含邻近于R且在R上方的N个热区和邻近于R且在R下方的N个热区。除非另外指明，术语N跃点邻域应理解为包含这些选项中的一个或两个。逻辑可以随后将存储块指派到经预配置热区中的第二个。所述多个经预配置热区可以被配置成使得用于N跃点邻域中的热区的存储器读取参数是兼容的。

本公开涉及用于通过检测热区标签和热区离群值而改善频繁改变的装置温度条件下的读取性能的系统。所述系统包含存储器阵列和控制器。控制器可以测量当存储器阵列的块被打开时的第一温度且测量当块被关闭时的第二温度。在所述第一温度与所述第二温度之间的范围横跨多个经预配置热区中的1≤N≤M个邻接热区的条件下，控制器可以为所述块指派对应于包含所述第二温度的所述经预配置热区中的一个的标签。最终，控制器可以将包含同一标签的块重定位为在存储器阵列中邻近。

附图说明

为容易地识别对任何特定元件或动作的论述，附图标记中的一个或多个最高有效数字指的是首次介绍所述元件的图号。

图1是根据一个实施例的存储系统100的框图描绘。

图2是在一个实施例中的存储装置200的框图描绘。