[发明专利]一种图像校正的方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110527517.6 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN112991233B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 张耀 申请(专利权)人: 深圳精智达技术股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 深圳腾文知识产权代理有限公司 44680 代理人: 王娟
地址: 518000 广东省深圳市龙华街道清*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像校正的方法,其特征在于,包括:

通过预设椭圆抛物面函数对目标样本数据库中所有的样本图像进行模拟得到所述样本图像对应的校正参数和第一校正图像,所述校正参数包括第一校正参数和第二校正参数,所述目标样本数据库中包含若干不同画面的样本图组,所述样本图组中包含不同灰阶的样本图像;

获取所述样本图组下各灰阶与校正参数之间对应的最优校正系数,所述最优校正系数包括第一最优校正系数和第二最优校正系数;

根据所述样本图组将各灰阶对应的最优校正系数添加至预设校正模型中后生成目标校正模型;

获取校正图像,所述校正图像由第一目标光学系统对第一目标LCD显示屏拍摄所得;

确定所述校正图像所对应的第一灰阶;

通过所述第一灰阶在目标校正模型中确定所述第一灰阶对应的目标最优校正系数,所述目标最优校正系数包括第一目标最优校正系数和第二目标最优校正系数;

将所述目标最优校正系数根据预设校正函数对所述校正图像进行校正得到目标校正图像;

所述通过预设椭圆抛物面函数对目标样本数据库中所有的样本图像进行模拟得到所述样本图像对应的校正参数和第一校正图像,包括:

从所述目标样本数据库中获取未训练过的第一样本图组;

从所述第一样本图组中获取未训练过的样本图像并确定所述样本图像的第二灰阶;

获取所述样本图像的第一残差数据和第二残差数据,所述第一残差数据为所述样本图像在光轴中心的水平方向上得到的归一化残差数据,所述第二残差数据为所述样本图像在光轴中心的竖直方向上得到的归一化残差数据;

根据所述第一残差数据和所述第二残差数据通过预设椭圆抛物面函数得到所述第二灰阶对应的第一校正参数、第二校正参数并生成所述第二灰阶对应的第一校正图像;

判断所述第一样本图组中是否存在未遍历的图像;

若是,则执行所述从所述第一样本图组中获取未训练过的样本图像并确定所述样本图像的第二灰阶的步骤;

若否,则获所述取所述样本图组下各灰阶与校正参数之间对应的最优校正系数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述样本图组下各灰阶与校正参数之间对应的最优校正系数,包括:

获取各个灰阶与对应的第一校正参数之间的第一最优校正系数,所述第一最优校正系数为通过最小二乘多项式拟合方法对各灰阶与对应的第一校正参数进行拟合并保存拟合得到的多项式系数;

获取各个灰阶与对应的第二校正参数之间的第二最优校正系数,所述第二最优校正系数为通过最小二乘多项式拟合方法对各灰阶与对应的第二校正参数进行拟合并保存拟合得到的多项式系数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述获取各个灰阶与对应的第二校正参数之间的第二最优校正系数之后,所述方法还包括:

判断所述目标样本数据库中是否存在未遍历的样本组;

若是,则执行所述从所述目标样本数据库中获取第一样本图组的步骤;

若否,则执行所述根据所述样本图组将各灰阶对应的最优校正系数添加至预设校正模型中后生成目标校正模型。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述获取所述样本图像的第一残差数据和第二残差数据,包括:

确定所述样本图像的光轴位置;

根据所述光轴位置获取第一图像数据和第二图像数据,所述第一图像数据为以所述光轴位置为中心在水平方向上的图像数据,所述第二图像数据为所述光轴位置为中心在竖直方向上的图像数据;

根据所述第一图像数据确定所述第一残差数据;

根据所述第二图像数据确定所述第二残差数据。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,通过预设椭圆抛物面函数对目标样本数据库中所有的样本图像进行模拟得到所述样本图像对应的校正参数和第一校正图像之前,所述方法还包括:

创建目标样本数据库,所述目标样本数据库中的样本图像均由第二目标光学系统对第二LCD显示屏在特定场景下拍摄而得。

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