[发明专利]一种样本点数据精化方法及系统

权利要求书

1.一种样本点数据精化方法，其特征在于，包括：

根据采样区域中的每个样本点所在的泰森多边形面积与平均采样面积，确定样本均值线、样本稀疏线和样本聚集线；

根据所述样本均值线、样本稀疏线和样本聚集线，确定每个所述样本点的样本类型；

根据每个所述样本点的样本类型，分别确定每个所述样本点的数据权重调整量；

根据每个所述样本点的数据权重调整量，对每个所述样本点的数据进行权重调整，以生成所述采样区域的样本点精化数据；

所述根据采样区域中的每个样本点所在的泰森多边形面积与平均采样面积，确定样本均值线、样本稀疏线和样本聚集线，包括：

获取所述采样区域的平均采样面积，以在样本点的空间分布图中确定所述样本均值线；所述平均采样面积为所述采样区域的总面积与样本点总数之间的比值；

确定面积大于所述平均采样面积的泰森多边形，作为第一类泰森多边形；计算所有所述第一类泰森多边形的面积均值μ₁和面积标准差σ₁；根据所述面积均值μ₁和面积标准差σ₁确定所述样本稀疏线；

确定面积小于所述平均采样面积的泰森多边形，作为第二类泰森多边形；计算所有所述第二类泰森多边形的面积均值μ₂和面积标准差σ₂；根据所述面积均值μ₂和面积标准差σ₂确定所述样本聚集线。

2.根据权利要求1所述的样本点数据精化方法，其特征在于，所述获取所述采样区域的平均采样面积，以在样本点的空间分布图中确定所述样本均值线，包括：

构建样本点的空间分布图，并在所述空间分布图中标注所述采样区域中的每个样本点；

所述空间分布图中任一样本点的横坐标值为所述样本点的序号、纵坐标值为所述样本点所在的泰森多边形面积；

在所述空间分布图中，以所述平均采样面积所对应的纵坐标值作平行于横坐标的数值线，作为所述样本均值线。

3.根据权利要求2所述的样本点数据精化方法，其特征在于，所述根据所述面积均值μ₁和面积标准差σ₁确定所述样本稀疏线，包括：

在所述空间分布图中，将根据面积均值μ₁与n倍面积标准差σ₁之和所确定的纵坐标值，所对应的平行于横坐标的数值线，作为所述样本稀疏线；其中n为任一正整数。

4.根据权利要求2所述的样本点数据精化方法，其特征在于，所述根据所述面积均值μ₂和面积标准差σ₂确定所述样本聚集线，包括：

在所述空间分布图中，将根据面积均值μ₂与m倍面积标准差σ₂之差所确定的纵坐标值，所对应的平行于横坐标的数值线，作为所述样本聚集线；其中m为任一正整数。

5.根据权利要求2所述的样本点数据精化方法，其特征在于，所述样本类型包括稀疏型、聚集型和均匀型；

所述根据所述样本均值线、样本稀疏线和样本聚集线，确定每个所述样本点的样本类型，包括：

针对任一样本点，若所述样本点所在的泰森多边形面积大于所述样本稀疏线所对应的面积，则将所述样本点确定为稀疏型；

若所述样本点所在的泰森多边形面积小于所述样本聚集线所对应的面积，则将所述样本点确定为聚集型；

若所述样本点所在的泰森多边形面积不大于所述样本稀疏线所对应的面积，且不小于所述样本聚集线所对应的面积，则将所述样本点确定为均匀型。