[发明专利]一种基于相移技术的对称叠加态涡旋光的一次性测量方法在审
| 申请号： | 202110529969.8 | 申请日： | 2021-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN113203486A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 任元;王琛;赵杰;李修乾;孟凡杰;刘通;刘政良;李瑞健 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人： | 郑久兴 |
| 地址： | 101416*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相移 技术 对称 叠加 涡旋 一次性 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于相移技术的对称叠加态涡旋光的一次性测量方法，其特征在于：用一次测量来表征对称叠加态涡旋光的复振幅，提高了测量效率，仅需极少时间即可实现模式纯度的测量，方法所需时间较短。
2.根据权利要求1所述的基于相移技术的对称叠加态涡旋光的一次性测量方法，其特征在于：提出了一种是用于振幅测量的环提取策略，通过提取圆环径向上的最大强度，可通过干涉强度恢复原来的单分量强度，步骤如下：
(1)对生成对称叠加态涡旋光的强度图进行径向等距环形网格分割；
(2)在每个环形网格中选取强度最大值，而后将该强度值填充于该环形网格中，即可得到相应空间位置的强度图。
3.根据权利要求1和权利要求2所述的基于相移技术表征对称叠加态涡旋光的一次性测量方法，其特征在于：提出了一种适用于相位测量的旋转测量策略，通过简单的旋转图片操作替换实际中的相移操作，很快得到四种干涉强度，步骤如下：
(1)将获得的对称叠加态涡旋光的强度图分别旋转角度45/m°、90/m°、135/m°，其中m为对称叠加态涡旋光单分量的拓扑荷数的绝对值；
(2)通过公式计算出对称叠加态涡旋光的单分量相位，其中I0为光束强度，(x,y)为笛卡尔坐标，φ为相角。由此只需一次测量即可得到叠加态涡旋光单分量相位信息。
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