[发明专利]基于多波束的波束角压缩方法

说明书

本公开提供一种基于多波束的物位测量方法，包括：生成多个波束，多个波束至少包括第一波束以及第二波束，第一波束具有第一波束角，第二波束具有第二波束角；至少获取第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线；至少基于第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别；以及，至少基于第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号。本公开还提供一种多波束物位计。

技术领域

本公开属于物位测量技术领域，本公开尤其涉及一种基于多波束的物位测量方法及多波束物位计。

背景技术

现有技术中的雷达物位计均是基于单个波束的雷达物位计，在物位测量过程中，物料储藏装置难免存在由于物料储藏装置本身结构形成的对于微波信号的干扰物，需要去除干扰物回波信号，或者在测量过程中尽量减小干扰物回波信号的幅度。

由于波束角越小，产生的干扰物回波信号的幅度越小，因此，可以通过使得雷达物位计产生极小的波束角来降低干扰物回波信号。

然而，对于生成单个波束的雷达物位计，生成极小的波束角需要严格的雷达物位计结构设计及微波信号控制。

发明内容

为了解决上述技术问题中的至少一个，本公开提供一种基于多波束的物位测量方法及多波束物位计。

本公开的基于多波束的物位测量方法及多波束物位计通过以下技术方案实现。

根据本公开的一个方面，提供一种基于多波束的物位测量方法，包括：

生成多个波束，所述多个波束至少包括第一波束以及第二波束，所述第一波束具有第一波束角，所述第二波束具有第二波束角；

至少获取所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线；

至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别；以及，

至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号。

根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别，包括：

基于所述第一波束的回波信号曲线与所述第二波束的回波信号曲线的波形区别对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别。

根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，至少基于所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号，包括：

对所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线的对应点进行线性计算，以去除干扰物回波信号。

根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，对所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线的对应点进行线性计算，包括：

对所述第一波束的回波信号曲线进行幅度调整，使得第一波束的回波信号曲线中的目标物回波信号幅度与第二波束的回波信号曲线中的目标物回波信号幅度相同；

将第二波束的回波信号曲线与进行了幅度调整的第一波束的回波信号曲线作差，获得干扰物回波信号曲线；以及，

对所述干扰物回波信号曲线进行幅度调整，将所述第二波束的回波信号曲线与进行了幅度调整的干扰物回波信号曲线作差，去除干扰物回波信号，获得目标物回波信号。

根据本公开的至少一个实施方式的基于多波束的物位测量方法，对所述第一波束的回波信号曲线以及所述第二波束的回波信号曲线的对应点进行线性计算，包括：