[发明专利]一种分体式导波雷达液位计的快速校验装置及其方法

说明书

本发明属于仪表控制领域，具体涉及一种分体式导波雷达液位计的快速校验装置及其方法。该装置包括：罐体、基座、雷达探头传感器接口、雷达探头传感器、显示屏、蓄电池、二次仪表机架安装接口、二次仪表机架、二次仪表、二次仪表故障报警灯、二次仪表满点调整按键、二次仪表零点调整按键和连接电缆。本发明装置能够快速、准确、安全的完成分体式导波雷达液位计的校验工作。

技术领域

本发明属于仪表控制领域，具体涉及一种分体式导波雷达液位计的快速校验装置及其方法。

背景技术

在工业应用中，导波雷达液位计是一种常见的测量仪表，其依据时域反射原理(TDR)，雷达波以光速运行，运行时可以通过电子部件被转换成液位(物位)信号。探头发出高频脉冲并沿缆式探头传播，当脉冲遇到液体(物料)表面时反射回来被仪表内的接收器接收，并将距离信号转化为液位(物位)信号；其技术优势明显：可以对液体、颗粒及浆料连续物位测量，测量不受介质变化、温度变化、惰性气体及蒸汽、粉尘、泡沫等的影响。因此，导波雷达液位计被广泛应用于水液储罐、酸碱储罐、浆料储罐、固体颗粒、小型储油罐。各类导电、非导电介质、腐蚀性介质。如煤仓、灰仓、油罐、酸罐等。在工业应用实践中，针对高温、高压、强腐蚀、强放射性等恶劣环境，一般选用分体式导波雷达液位计，其通常由两个部分组成，一个雷达探头传感器和一个二次仪表。通常将雷达探头传感器安装在恶劣的厂房环境中，二次仪表安装在环境良好的厂房中，避免了二次仪表的电子器件暴露在恶劣的环境中。然而，因雷达探头传感器和二次仪表不在一个厂房，这给维修工作人员对分体式导波雷达液位计的维护工作带来不便；另外，在工业中的工艺系统安装调试阶段，通常需要多次对工艺系统进行排空或注满操作，以此来对导波雷达液位计进行校验，如果采用的导波雷达液位计数量较多，这会占用大量的工艺系统调试时间。

以某核电站为例，在该电站的扩建工程中，因辐射控制区厂房三废(废水、废气、废渣)工艺系统介质具有放射性高的特点，在机组运行后其系统所在厂房环境剂量偏高，因此，针对三废工艺系统采用了大量分体式导波雷达液位计用于监测三废系统介质的液位，分体式导波雷达液位计的雷达探头传感器安装三废工艺系统所在的厂房，二次仪表安装放射性较低的仪表间。然而在三废工艺系统安装、调试阶段，在对分体式导波雷达液位计校验时，均需要对安装液位计所在的罐体、地坑、管道等进行排空、注满操作，而且在调整液位安装位置时，需要分两组人员，其中一组在雷达探头传感器侧调整传感器位置，另外一组在仪表间调整二次仪表的参数。两组人员需要保持实时沟通，这占用了大量的调试时间；另外，在机组运行后，三废工艺系统所在厂房环境剂量偏高，因此，为了降低维修工作人员受放射性照射影响，应尽量避免工作人员长时间待在三废系统厂房。然而，在机组正常运行期间，当运行人员告知分体式导波雷达液位计出现故障或者需要更换雷达探头传感器时，需要运行人员配合对三废工艺系统管道、储罐等进行介质排空或者注满，以此来校验液位计或者验证液位计是否正常工作。在上述工作过程中，工作人员需要分2组，其中一组在工艺厂房侧检查或者更换雷达探头传感器，另外一组在仪表间调整二次仪表的参数，因厂房环境剂量偏高，工作人员需在最短时间内完成雷达探头传感器的检查或者更换，两组人员在沟通的过程中，如果出现信息错误，比如将二次仪表的相关参数设置错误，则管道、地坑、储罐相关的工艺设备存在误动作的风险。整个维修过程效率低、准确性低。如上述所述，分体式导波雷达液位计主要用于放射性较高的场所，为避免工作人员受到放射性照射，降低人员受照剂量，需要快速、安全、可靠的完成分体式导波雷达液位计的维护工作。

因此，现在急需一种分体式导波雷达液位计的快速校验装置，可以快速、准确、安全的完成分体式导波雷达液位计的校验维护工作。

发明内容

本发明的目的在于提供一种分体式导波雷达液位计的快速校验装置及其方法，该快速校验装置能够快速、准确、安全的完成分体式导波雷达液位计的校验工作。

实现本发明目的的技术方案：