[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

说明书

本公开涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质；其中，该方法包括：将待检测图像进行灰度化处理，得到灰度图像；根据灰度图像中各像素点的灰度值，确定灰度图像中背景的灰度信息和灰度图像中目标物的灰度信息；根据背景的灰度信息和目标物的灰度信息，对灰度图像进行三值化处理；根据三值化处理结果确定待检测图像中的缺陷信息。本公开实施例能够有效提高图像的缺陷检测精度。

技术领域

本公开涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测，表面缺陷检测是采用先进的机器视觉检测技术，对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差以及缺损等缺陷进行检测。缺陷检测可应用到有金属表面、玻璃便面、纸张表面以及电子元器件表面等对外观有严格要求又有明确指标的物品。

目前的缺陷检测技术主要是基于缺陷检测模型实现缺陷检测，即，预先搜集大量的缺陷训练样本，对缺陷图像进行二值化处理，得到二值图像，再得到图像中的缺陷部位，以将原始图像的缺陷部位作为训练样本训练缺陷检测模型，从而能够利用缺陷检测模型对待检测图像进行缺陷检测。

现有方案的缺陷在于：缺陷检测模型的训练需要大量的训练样本，且训练样本的选取会直接影响到缺陷检测模型的训练精度，若训练样本选择不合适，则会导致训练出的缺陷检测模型的精度降低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够有效提高缺陷检测精度的缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

本公开实施例提供了一种缺陷检测方法，所述方法包括：

将待检测图像进行灰度化处理，得到灰度图像；

根据所述灰度图像中各像素点的灰度值，确定所述灰度图像中背景的灰度信息和所述灰度图像中目标物的灰度信息；

根据所述背景的灰度信息和所述目标物的灰度信息，对所述灰度图像进行三值化处理；

根据三值化处理结果确定所述待检测图像中的缺陷信息。

在一个实施例中，所述灰度信息包括平均灰度值，所述根据所述灰度图像中各像素点的灰度值，确定所述灰度图像中背景的灰度信息和所述灰度图像中目标物的灰度信息，包括：根据所述灰度图像中各像素点的灰度值，构建所述灰度图像的灰度直方图；根据所述灰度直方图确定所述灰度图像中背景的平均灰度值和所述灰度图像中目标物的平均灰度值。

在一个实施例中，所述根据所述灰度直方图确定所述灰度图像中背景的平均灰度值，包括：从所述灰度直方图的所有灰度值区间中查找灰度值数量为第一数值对应的第一灰度值区间；根据所述第一灰度值区间的起始灰度值和终止灰度值，确定所述灰度图像中背景的平均灰度值。

在一个实施例中，所述根据所述灰度直方图确定所述灰度图像中目标物的平均灰度值，包括：从所述灰度直方图的所有灰度值区间中查找灰度值数量为第二数值对应的第二灰度值区间；根据所述第二灰度值区间的起始灰度值和终止灰度值，确定所述灰度图像中目标物的平均灰度值。

在一个实施例中，所述根据所述背景的灰度信息和所述目标物的灰度信息，对所述灰度图像进行三值化处理，包括：计算所述灰度图像中每一像素点的灰度值与所述背景的平均灰度值之间的第一误差；计算所述灰度图像中每一像素点的灰度值与所述目标物的平均灰度值之间的第二误差；根据所述第一误差和所述第二误差，对所述灰度图像进行三值化处理。