[发明专利]频点测量方法及装置、芯片、设备、存储介质

权利要求书

1.一种频点测量方法，其特征在于，所述方法包括：

接收用于异频测量或异系统测量的第一测量配置信息；其中，所述第一测量配置信息包括至少一个待测频点的信息；

确定支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点，从而得到包括当前所述待测频点和所述其他待测频点的频点组合；

在同一间隙中并行地对所述频点组合中的每一频点进行测量；

其中，所述确定支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点，包括：

在所述第一测量配置信息用于异频测量的情况下，获取用于同频测量的第二测量配置信息；其中，所述第二测量配置信息包括至少一个待测的同频频点的信息；

从所述第一测量配置信息和/或所述第二测量配置信息中，筛选出支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述第一测量配置信息和/或所述第二测量配置信息中，筛选出支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点，包括：

从所述第一测量配置信息和/或所述第二测量配置信息中，筛选出能够与当前所述待测频点组成用户设备UE支持的载波聚合CA的其他待测频点。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点，包括：

在所述第一测量配置信息用于异系统测量的情况下，获取用于同频测量的第二测量配置信息和/或用于异频测量的第三测量配置信息；其中，所述第二测量配置信息包括至少一个待测的同频频点的信息，所述第三测量配置信息包括至少一个待测的异频频点的信息；

从所述第一测量配置信息、所述第二测量配置信息和/或所述第三测量配置信息中，筛选出支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述从所述第一测量配置信息、所述第二测量配置信息和/或所述第三测量配置信息中，筛选出支持的能够与当前所述待测频点并行测量的其他待测频点，包括：

从所述第一测量配置信息、所述第二测量配置信息和/或所述第三测量配置信息中，确定能够与当前所述待测频点组成UE支持的双连接频段组合的其他待测频点。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述双连接频段组合包括以下至少之一：EN-DC频段组合、NE-DC频段组合。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在同一间隙中并行地对所述频点组合中的每一频点进行测量，包括：

在所述频点组合中包括已开启的射频通道支持测量的同频频点的情况下，开启支持所述频点组合中非同频频点的测量的射频通道，从而在同一间隙中并行地对所述频点组合中的每一频点进行测量；

在所述频点组合中未包括所述同频频点的情况下，关闭支持所述同频频点的测量的射频通道，以及开启支持所述频点组合中的频点的测量的射频通道，从而在同一间隙中并行地对所述频点组合中的每一频点进行测量。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述频点组合中包括所述同频频点的情况下，在完成所述频点组合的测量之后，关闭支持所述非同频频点的测量的射频通道；

在所述频点组合中未包括所述同频频点的情况下，在完成所述频点组合的测量之后，开启支持所述同频频点的测量的射频通道，以及关闭支持所述频点组合中的频点的测量的射频通道。

8.根据权利要求1至7任一项所述的方法，其特征在于，所述第一测量配置信息还包括用于测量所述待测频点的测量间隙；

所述在同一间隙中并行地对所述频点组合中的每一频点进行测量，包括：

在所述测量间隙中或者在所述测量间隙之外的其他间隙中，并行地对所述频点组合中的每一频点进行测量。