[发明专利]芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置

权利要求书

1.一种芯片漏写电可编程熔丝的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

当应用待测芯片的电子设备第一次开机时，获取所述待测芯片的电可编程熔丝状态标志位；

根据所述电可编程熔丝状态标志位判断电可编程熔丝是否写入数据；

若电可编程熔丝未写数据，发出提醒信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述电可编程熔丝状态标志位为1，则判断电可编程熔丝已写数据，若所述电可编程熔丝状态标志位为0，则判断电可编程熔丝未写数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述发出提醒信号包括执行以下操作的一种或几种的组合，具体包括：

将电子设备停留在开机界面，控制电子设备屏幕闪烁；

以及，将电子设备停留在开机界面，在电子设备屏幕上显示提醒文字或图片；

以及，将电子设备停留在开机界面，控制充电指示灯闪烁；

以及，将电子设备停留在开机界面，控制喇叭播放提醒音乐；

以及，控制指定的GPIO口输出固定频率的脉冲信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电可编程熔丝状态标志位为8bit，默认状态为0x00，表示芯片未写efuse，写入状态为0x01，表示芯片已经烧写efuse。

5.一种芯片漏写电可编程熔丝的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于当应用待测芯片的电子设备第一次开机时，获取所述待测芯片的电可编程熔丝状态标志位；

判断模块，用于根据所述电可编程熔丝状态标志位判断电可编程熔丝是否写入数据；

提醒模块，用于若电可编程熔丝未写数据，发出提醒信号。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述判断模块，用于若所述电可编程熔丝状态标志位为1，则判断电可编程熔丝已写数据，若所述电可编程熔丝状态标志位为0，则判断电可编程熔丝未写数据。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述提醒模块，用于若电可编程熔丝未写数据，执行以下操作的一种或几种的组合，具体包括：

将电子设备停留在开机界面，控制电子设备屏幕闪烁；

以及，将电子设备停留在开机界面，在电子设备屏幕上显示提醒文字或图片；

以及，将电子设备停留在开机界面，控制充电指示灯闪烁；

以及，将电子设备停留在开机界面，控制喇叭播放提醒音乐；

以及，控制指定的GPIO口输出固定频率的脉冲信号。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述电可编程熔丝状态标志位为8bit，默认状态为0x00，表示芯片未写efuse，写入状态为0x01，表示芯片已经烧写efuse。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至4任一所述的芯片漏写电可编程熔丝的测试方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一所述的芯片漏写电可编程熔丝的测试方法的步骤。