[发明专利]一种基于相变材料的空间光型电光调制器件及其制造方法有效
申请号: | 202110545446.2 | 申请日: | 2021-05-19 |
公开(公告)号: | CN113376870B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 刘孝凯;胡鑫;陈迎鑫;张鉴;张雪峰 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G02F1/03 | 分类号: | G02F1/03 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 刘正君 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 相变 材料 空间 电光 调制 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,包括衬底以及自下而上依次设置在衬底上的下电极层、相变层、上电极层和覆盖层,所述相变层选用Ge2Sb2Te5、Ge3Sb2Te6、GeTe、Sb2Te3中的一种,相变层须具备至少两种晶相,所述上电极层为N位金属微纳光栅结构的顶金属光栅层;所述下电极层为M位金属微纳光栅结构的底金属光栅层,所述器件通过对N位顶部和M位底部分立电极施加不同电压;单位底金属光栅层厚度为100nm-200 nm,由规则排列的宽度为200 nm-400 nm的光栅构成,单位顶金属光栅层厚度为100nm-200 nm,宽度为300 nm-460 nm。
2.根据权利要求1所述的一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,所述顶金属光栅层为规则排列的金属微纳光栅结构。
3.根据权利要求2所述的一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,包括底金属光栅层为规则排列的金属微纳光栅结构。
4.根据权利要求3所述的一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,所述覆盖层采用六方氮化硼、氮化硅和二氧化硅中任一种。
5.根据权利要求2所述的一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,所述底金属光栅和顶金属光栅形成分立电极。
6.根据权利要求5所述的一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,能够单独控制单个电极交叉处相变材料的晶化比例,实现交叉处光幅度的单独调制,从而实现N×M面阵单元的空间光调制。
7.根据权利要求1-6任一条权利要求所述的一种基于相变材料的空间光型电光调制器件,其特征在于,所述器件能够通过电压脉冲激励相变材料相变,改变电压大小能够实现不同晶化比例的相变区域,使得介电常数显著性变化,实现反射光幅度的动态调控。
8.一种基于相变材料的空间光型电光调制器件的制造方法,应用于权利要求1-7任一项所述的器件,其特征是,包括如下步骤:
步骤1:在衬底上旋涂电子束光刻胶,利用电子束曝光在光刻胶上图案化并显影;
步骤2:通过反应离子刻蚀在衬底上刻蚀出凹槽;
步骤3:金属光栅材料通过电子束蒸发、热蒸发或磁控溅射之一沉积在衬底的凹槽中,经过剥离过程制备出底部电极层;
步骤4:通过磁控溅射、微机械剥离法、物理气相沉积法和化学气相沉积法之一制备相变层;
步骤5:通过电子束蒸发、磁控溅射、微机械剥离法、水热合成法和化学气相沉积法之一制备覆盖层;
步骤6:在相变层上旋涂电子束光刻胶,再次利用电子束曝光在光刻胶上图案化并显影;
步骤7:通过反应离子刻蚀出凹槽,再次沉积金属光栅材料,经过剥离过程制备出顶光栅层。
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