[发明专利]一种抓框图像的优化方法及装置在审
申请号: | 202110545453.2 | 申请日: | 2021-05-19 |
公开(公告)号: | CN113379780A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 蒋明杰 | 申请(专利权)人: | 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/136 | 分类号: | G06T7/136;G06T7/181;G06T7/62 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 梁凯 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 框图 优化 方法 装置 | ||
1.一种抓框图像的优化方法,其特征在于,包括:
获取摄像头模组对模板图像成像的第一图像;
基于所述第一图像中的封闭区域,确定优化阈值;
基于所述优化阈值,从所述封闭区域中确定出异常区域;
修复所述异常区域,获得第二图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一图像中的封闭区域,确定优化阈值,包括:
获取所述封闭区域的数量特征;其中,所述数量特征表示所述第一图像中不同类型的所述封闭区域的数量;
基于所述数量特征,确定优化阈值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述数量特征为不同面积大小的所述封闭区域的分布数量;所述基于所述数量特征,确定优化阈值,包括:
基于所述第一图像中每个所述封闭区域的面积大小,获取分布数量最多的目标面积区间;
获取所述目标面积区间对应的多个第一目标封闭区域;
基于所述多个第一目标封闭区域的面积,确定所述优化阈值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述多个第一目标封闭区域的面积,确定所述优化阈值,包括:
获取所述多个第一目标封闭区域的面积均值;
基于所述面积均值,获得所述优化阈值;其中,所述优化阈值取值为所述面积均值的1/8~1/15。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述数量特征为不同轮廓长度的所述封闭区域的分布数量;所述基于所述数量特征,确定优化阈值,包括:
基于所述第一图像中每个所述封闭区域的轮廓长度,获取分布数量最多的目标长度区间;
获取所述目标长度区间对应的多个第二目标封闭区域;
基于所述多个第二目标封闭区域的轮廓长度,确定所述优化阈值。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于所述多个第二目标封闭区域的轮廓长度,确定所述优化阈值,包括:
获取所述多个第二目标封闭区域的轮廓的长度均值;
基于所述长度均值,获得所述优化阈值;其中,所述优化阈值取值为所述长度均值的1/8~1/15。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述修复所述异常区域,获得第二图像,包括:
基于所述异常区域在所述第一图像中的位置修复所述异常区域,获得第二图像。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述基于所述异常区域在所述第一图像中的位置修复所述异常区域,获得第二图像,包括:
基于所述异常区域在所述第一图像中的位置,获得所述异常区域所在封闭区域的目标颜色;
将所述异常区域的颜色调整为所述目标颜色,获得所述第二图像。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述异常区域在所述第一图像中的位置修复所述异常区域,获得第二图像之后,还包括:
获取所述摄像头模组视场点在历史图像中的第一位置,以及在所述第二图像中的第二位置;其中,所述历史图像为当前抓框操作的前次抓框操作的图像,所述第一位置和所述第二位置为先后两次抓框时的视场点坐标;
判断所述第一位置和所述第二位置的偏差是否小于预设的偏差阈值;
若是,则基于所述第一位置,在所述第二图像中确定抓框对象;
若否,则基于所述第二位置,在所述第二图像中确定抓框对象。
10.一种抓框图像的优化装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于获取摄像头模组对模板图像成像的第一图像;
阈值获取模块,用于基于所述第一图像中的封闭区域,确定优化阈值;
异常处理模块,用于基于所述优化阈值,从所述封闭区域中确定出异常区域;
优化修复模块,用于修复所述异常区域,获得第二图像。
11.一种抓框图像的优化装置,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器耦接到所述处理器,所述存储器存储指令,当所述指令由所述处理器执行时使所述抓框图像的优化装置执行权利要求1-9中任一项所述方法的步骤。
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