[发明专利]一种激光雷达质量控制的装置

权利要求书

1.一种激光雷达质量控制的装置，包括臭氧激光雷达系统，所述臭氧激光雷达系统用于确定脉冲光共同路径上的臭氧浓度，其特征在于，还包括：

臭氧激光雷达光路折转镜，所述臭氧激光雷达光路折转镜设置在臭氧激光雷达系统的一侧，所述臭氧激光雷达光路折转镜用于臭氧激光雷达在水平方向进行观测；

路径校验模块，所述路径校验模块设置在臭氧激光雷达发射接收光路上超过500m的区域中，所述路径校验模块用于测量臭氧浓度；以及

校验模块调节架，所述校验模块调节架设置在所述路径校验模块一侧，所述校验模块调节架用于支撑所述路径校验模块。

2.根据权利要求1所述的激光雷达质量控制的装置，其特征在于，所述臭氧激光雷达系统采用差分吸收激光雷达，差分吸收激光雷达方程是由两个激光波长分别为λ_on和λ_off的激光雷达方程联合求解的结果,差分吸收激光雷达方程如下式所示：

其中，

式中：N(z)为距离z处待测吸收气体的数密度，P(λ_i,z)为波长λ_i距离z处的激光回波信号，δ(λ_i，T)为波长λ_i温度T时的待测气体吸收截面，B_A、E_A、E_M和E_other分别为大气后向散射、大气气溶胶消光、大气分子消光和其它吸收气体吸收引起的修正项，β(λ_i,z)为波长λ_i高度z处的大气(包括大气分子和气溶胶)体积后向散射系数，和分别为大气分子和气溶胶对应于波长λ_i在高度z和z+Δz之间的平均消光系数，为其它吸收气体的平均体积吸收系数。

3.根据权利要求1所述的激光雷达质量控制的装置，其特征在于，所述路径校验模块包括：

特氟龙膜层，所述特氟龙膜层设置在路径校验模块内壁，所述特氟龙膜层用于防止臭氧的吸附及内壁的不均匀性；以及

参比点位，所述参比点位至少设置有四个。

4.根据权利要求3所述的激光雷达质量控制的装置，其特征在于，所述参比点位设置有臭氧标准测量系统，所述臭氧标准测量系统包括臭氧发生器、零气发生气、标准参考光度计SRP、压力传感器(P)、温度传感器(T)。

5.根据权利要求3所述的激光雷达质量控制的装置，其特征在于，所述路径校验模块长度超过30m，截面直径超过3m。

6.根据权利要求1所述的激光雷达质量控制的装置，其特征在于，所述校验模块调节架固定连接路径校验模块，所述校验模块调节架用于三维结构调节、调距精度小于0.1m。

7.根据权利要求1所述的激光雷达质量控制的装置，其特征在于，所述路径校验模块电路连接控制中心，所述控制中心采用软件将臭氧激光雷达的反演结果与路径校验模块数据进行快速比对，以及自动化控制调节校验模块调节架。