[发明专利]基于Verilog实现的微处理器自动化验证方法及验证装置

说明书

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种基于Verilog实现的微处理器自动化验证方法及验证装置。所述基于Verilog实现的微处理器自动化验证方法包括如下步骤：建立映射对应关系，所述映射对应关系包括多个调用模块、与多个调用模块一一对应的多个测试激励模块，所述测试激励模块用于产生测试激励；调用微处理器中的待测电路当前验证所需的目标调用模块；根据所述映射对应关系选择与所述目标调用模块对应的目标测试激励模块；加载所述目标测试激励模块产生的目标测试激励至所述待测电路，以对所述待测电路进行验证。本发明简化了微处理器的验证过程，减少了测试人员的工作量，缩短了微处理器的设计周期。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种基于Verilog实现的微处理器自动化验证方法及验证装置。

背景技术

微处理器是计算机系统中最核心的部件，其性能会直接影响整个计算机系统的性能，因此，微处理器的功能验证以及保证其功能的正确性显得尤为重要。随着集成电路技术的不断发展，微处理器芯片规模不断增加且设计复杂度不断提高，验证也变得越来越困难。

图1是现有技术中的芯片设计流程图。如图1所示，在整个芯片的设计流程中需要进行多次验证，验证大约占到了70％的工作量。当前对微处理器的验证过程中，针对每一个测试都需要单独搭建一个验证平台，验证过程异常繁琐，不仅增加了测试开发人员的工作量，而且也导致微处理器设计周期的延长。

因此，如何简化微处理器的验证操作，缩短微处理器的设计周期，减小测试人员的工作量，是当前亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供一种基于Verilog实现的微处理器自动化验证方法及其验证装置，用于解决现有技术中微处理器的验证过程操作繁琐、工作量大的问题，以缩短微处理器的设计周期，减小测试人员的工作量。

为了解决上述问题，本发明提供了一种基于Verilog实现的微处理器自动化验证方法，包括如下步骤：

建立映射对应关系，所述映射对应关系包括多个调用模块、与多个调用模块一一对应的多个测试激励模块，所述测试激励模块用于产生测试激励；

调用微处理器中的待测电路当前验证所需的目标调用模块；

根据所述映射对应关系选择与所述目标调用模块对应的目标测试激励模块；

加载所述目标测试激励模块产生的目标测试激励至所述待测电路，以对所述待测电路进行验证。

可选的，建立映射对应关系的具体步骤包括：

搭建编译环境；

编写用于产生测试激励的测试程序，形成所述测试激励模块。

可选的，编写用于产生测试激励的测试程序的具体步骤包括：

采用汇编语言或者C语言编写用于产生测试激励的测试程序。

可选的，建立映射对应关系的具体步骤还包括：

编写多个调用程序，形成多个调用模块，多个所述调用程序具有相同的起始标识符和结束标识符。

可选的，调用微处理器中的待测电路当前验证所需的目标调用模块的具体步骤包括：

设置调用标识符；

输入所述调用标识符以及目标调用模块的名称，调用微处理器中的待测电路当前验证所需的所述目标调用模块。

为了解决上述问题，本发明还提供了一种基于Verilog实现的微处理器自动化验证装置，包括：

存储模块，用于存储映射对应关系，所述映射对应关系包括多个调用模块、与多个调用模块一一对应的多个测试激励模块，所述测试激励模块用于产生测试激励；