[发明专利]一种基于内定标多波位测试的天线方向图测试方法

权利要求书

1.一种基于内定标多波位测试的天线方向图测试方法，其特征在于，所述天线方向图测试方法包括以下步骤：

步骤1，天线阵面通过平面暗室近场测试获取有源阵面各通道对应的天线子阵的带内方向图矢量数据；

步骤2，通过平面暗室近场测试获取的法向波位对应的有源阵面所有通道的工作频带内幅度和相位近场数据采样；

步骤3，对待测波位进行分组，通过内定标多波位测试获取的法向波位的带内内定标幅相数据矩阵；

步骤4，通过内定标多波位测试系统获取的待测波位的带内内定标幅相数据矩阵；

步骤5，通过带内方向图矢量数据、法向波位对应带内幅度和相位近场数据采样、法向波位的带内内定标幅相数据矩阵以及待测波位的带内内定标幅相数据矩阵计算待测波位的内定标方向图；

在步骤5中，所述待测波位的内定标方向图计算模型为：

其中，λ表示入为天线工作波长；a_mn为各通道的近场幅相值，a_mn＝A_MN+D1_MN-D0_MN，A_MN表示法向波位对应带内幅度和相位近场数据采样，D0_MN表示法向波位的带内内定标幅相数据矩阵，D1_MN表示待测波位的带内内定标幅相数据矩阵；f(u,v)表示带内方向图矢量数据；x_m＝m×d_x，表示第(m,n)有源通道的横坐标，其中d_x为在x方向的通道间距；y_n＝n×d_y，表示第(m,n)有源通道的横坐标，其中d_y为在y方向的通道间距；为阵列波束指向角位置。

2.根据权利要求1所述天线方向图测试方法，其特征在于，在步骤3和步骤4中，所述内定标多波位测试过程中，若通道数小于波位数，则对第一个波位中所有通道进行遍历采样，再依次将其他波位中所有通道进行遍历采样；若波位数小于通道数，则对第一个通道中所有波位进行遍历采样，再依次将其他通道中所有波位进行遍历采样。