[发明专利]一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法

权利要求书

1.一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法，包括以下步骤：

a、电芯充电后，用1000-2000V高压电击穿铝塑膜2-6次，每次0.2-6秒，再用导线连接铝塑膜的铝层和负极极耳，静置0.5-3天至出现腐蚀点；

b、将有腐蚀点的样品进行拆解剪切留样；

c、将样品浸泡在酸或碱溶液中，反应至铝层被部分溶解；

d、除去样品的表层，继续将样品与酸或碱溶液反应至除去内层上的铝；

e、用清水冲洗净样品表面的残酸或残碱液，干燥样品内层表面后，用电子显微镜观察内层形貌，判断绝缘不良类型，定位原因，分析改善。

2.根据权利要求1所述的一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法，其特征是，所述步骤c及步骤d中酸溶液为盐酸、硫酸、亚硫酸及氢氟酸的一种或多种混合溶液，酸溶液的氢离子浓度为9.5-18 mol/L。

3.根据权利要求1所述的一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法，其特征是，所述步骤c及步骤d中碱溶液为氢氧化钠及氢氧化钾的一种或多种混合溶液，碱溶液的氢氧根离子浓度为4.5-10 mol/L。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法，其特征是，所述步骤c的反应时间为1-3天。

5.根据权利要求1或2或3所述的一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法，其特征是，所述步骤d的反应时间为0.5-3天。

6.根据权利要求1所述的一种软包电池铝塑膜的绝缘不良分析方法，其特征是，所述步骤e中判断绝缘不良类型的方法如下：

内层封印边处有褶皱或出现微裂孔腐蚀点为内层材料挤胶团聚引起的绝缘不良；

内层在极耳胶直角附近封口处有微裂孔为极耳胶直角位起翘戳破内层引起的绝缘不良；

绝缘高温胶附近出现微裂孔为封印压住绝缘高温胶引起的绝缘不良；

Tablead金属片表面或者边缘出现绝缘腐蚀点为封头条压金属片引起的绝缘不良；

内层封印边处有气泡并出现微裂孔为封装时内层有蒸汽未排出引起的绝缘不良。